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三氧化二铝衬底表面杂质对二氧化钛厚膜氧敏特性的影响
1
作者
袁战恒
张茂林
郑程
《硅酸盐学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期341-346,共6页
以三氧化二铝(Al2O3)为衬底,二氧化钛(TiO2)为厚膜氧敏材料,研究衬底表面杂质对厚膜高温氧敏特性的影响。用X射线光电子能谱监测常用Al2O3基体在制备及表面抛光过程中引入的钙(Ca)、硅(Si)、钠(Na)、氮(N)等杂质及含量。X射线衍射分析表...
以三氧化二铝(Al2O3)为衬底,二氧化钛(TiO2)为厚膜氧敏材料,研究衬底表面杂质对厚膜高温氧敏特性的影响。用X射线光电子能谱监测常用Al2O3基体在制备及表面抛光过程中引入的钙(Ca)、硅(Si)、钠(Na)、氮(N)等杂质及含量。X射线衍射分析表明:衬底杂质使厚膜主体物相仍保持金红石结构,但随着Si离子摩尔分数(下同)的提高,厚膜的金红石结构中出现低度的Si,Ti有序化。扫描电子显微镜分析表明:Ca,Na离子含量较高的样品,晶粒表层包覆使厚膜粒度呈现增大的迹象。伏安法的厚膜氧敏特性测试表明:衬底表面存留的Ca离子含量越高,引入深能级空穴浓度越高,高温(600℃以上)氧气响应特性变差。缺位分析认为,衬底表面存留Ca,Si,Na离子产生的Ti金属缺位是影响敏感膜高温富氧响应特性和响应时间的主要因素。
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关键词
二氧化钛
衬底表面杂质
高温氧敏特性
深能级空穴
下载PDF
职称材料
题名
三氧化二铝衬底表面杂质对二氧化钛厚膜氧敏特性的影响
1
作者
袁战恒
张茂林
郑程
机构
西安交通大学电子系
出处
《硅酸盐学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期341-346,共6页
文摘
以三氧化二铝(Al2O3)为衬底,二氧化钛(TiO2)为厚膜氧敏材料,研究衬底表面杂质对厚膜高温氧敏特性的影响。用X射线光电子能谱监测常用Al2O3基体在制备及表面抛光过程中引入的钙(Ca)、硅(Si)、钠(Na)、氮(N)等杂质及含量。X射线衍射分析表明:衬底杂质使厚膜主体物相仍保持金红石结构,但随着Si离子摩尔分数(下同)的提高,厚膜的金红石结构中出现低度的Si,Ti有序化。扫描电子显微镜分析表明:Ca,Na离子含量较高的样品,晶粒表层包覆使厚膜粒度呈现增大的迹象。伏安法的厚膜氧敏特性测试表明:衬底表面存留的Ca离子含量越高,引入深能级空穴浓度越高,高温(600℃以上)氧气响应特性变差。缺位分析认为,衬底表面存留Ca,Si,Na离子产生的Ti金属缺位是影响敏感膜高温富氧响应特性和响应时间的主要因素。
关键词
二氧化钛
衬底表面杂质
高温氧敏特性
深能级空穴
Keywords
titania
impurity on substrate surface
high temperature oxygen response characteristic
hole in deep lever defect
分类号
TQ174 [化学工程—陶瓷工业]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
三氧化二铝衬底表面杂质对二氧化钛厚膜氧敏特性的影响
袁战恒
张茂林
郑程
《硅酸盐学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
0
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职称材料
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