三种剂型氢氧化钙与光敏固化树脂修复深V类洞对比

目的： 观察光固化、化学固化、不固化三型氢氧化钙盖髓剂的作用差异以及对光固化复合树脂固位的影响。方法： 选择冷热敏感的深Ｖ 类洞，分别用三型氢氧化钙垫底，常规光固化复合树脂修复及直接光固化修复，术后每三个月复查一次，详细记录牙髓、根尖周状况及复合树脂脱落情况，术后一年汇总结果。结果： 三种氢氧化钙垫底组的牙本质过敏、牙髓炎、根尖周炎发生率无显著性差异（ Ｐ＞ ０ ．０５） ，且均低于光固化树脂直接充填组（ Ｐ＜ ０ ．０１） ，光固化氢氧化钙垫底组和光固化树脂直接充填的脱落率明显低于另两组；过敏症状持续时间４ 组间有显著性差异，从短到长依次为不固化组、化学固化组、光固化氢氧化钙组、光固化树脂直接充填组。酸蚀性与机械型磨损所致的Ｖ 类洞在引起过敏和牙髓炎方面无显著性差异。结论：