期刊文献+
共找到6篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
应对目前模拟混合信号器件的复杂测试挑战
1
作者 Ross Martindale 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第6期47-48,共2页
关键词 模拟混合信号器件 复杂测试 并行测试 ASL3000
下载PDF
欧胜微电子为消费类产品提供高性能混合信号器件
2
作者 张健 《电子设计应用》 2004年第8期72-72,共1页
关键词 欧胜微电子公司 混合信号器件 半导体器件 WM8782
下载PDF
赛普拉斯推出PSoC混合信号阵列器件开发工具
3
《电子测试(新电子)》 2005年第4期104-105,共2页
赛普拉斯微系统公司(Cypress MicroSystems)日前宣布推出三款用于其可编程系统级芯片(PSoC)混合信号阵列器件的廉价开发套件。这些低成本开发工具使得嵌入式控制系统的设计者能够在无需设计印制电路板的情况下完成PSoC器件的设计、仿真... 赛普拉斯微系统公司(Cypress MicroSystems)日前宣布推出三款用于其可编程系统级芯片(PSoC)混合信号阵列器件的廉价开发套件。这些低成本开发工具使得嵌入式控制系统的设计者能够在无需设计印制电路板的情况下完成PSoC器件的设计、仿真、调试和原型设计。 展开更多
关键词 赛普拉斯微系统公司 PSoC混合信号阵列器件 开发工具 可编程系统级芯片
下载PDF
半导体市场
4
《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2004年第4期102-103,共2页
关键词 半导体产业 微电子工业 市场 原子层沉积 混合信号器件测试
下载PDF
大唐微电子选择安捷伦业内领先的93000 SoC系列进行通信SoC测试
5
《电子工业专用设备》 2004年第10期11-11,共1页
关键词 大唐微电子公司 安捷伦公司 93000 SOC 混合信号器件
下载PDF
在聚焦离子束系统中进行集成电路显微探测的应用实例研究
6
作者 姜晓东 TedLundquiSt JimBrown 《集成电路应用》 2002年第10期31-33,共3页
在模拟集成电路的设计开发中,需要对集成电路芯片内部信号的时序和电平进行精确的测量。这在过去是以光学显微镜和微型机械探针相结合的机械显微探测法来实现的。但是,对于当今半导体技术下的集成电路内部微小线宽互连几何结构,光学... 在模拟集成电路的设计开发中,需要对集成电路芯片内部信号的时序和电平进行精确的测量。这在过去是以光学显微镜和微型机械探针相结合的机械显微探测法来实现的。但是,对于当今半导体技术下的集成电路内部微小线宽互连几何结构,光学显微镜已无法提供足够的图象分辨率且无法保证探针的准确放置。而更小几何尺寸半导体工艺的进一步发展却要求探测工具具有越来越高的探针放置精度和空间分辨率。应用微型机械探针和聚焦离子束扫描离子显微镜相结合的新的机械探测技术,已经在这一领域进行了一些实例研究。本文重点阐述在一模数混合信号器件设计开发过程中,从芯片内部调试获取一个需10纳秒延时的60OmV模拟电压跃升信号的应用实例研究。 展开更多
关键词 聚焦离子束系统 集成电路 显微探测 时序 电平 模数混合信号器件
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部