混合信号可测设计

随着系统芯片的兴起和信号速率的提高,混合信号 DFT正在冲出数字 DFT的阴影而进入电子测试的显著突出地位。

融合IEEE1149.X标准的混合信号测试系统设计

集成电路的高复杂度和装配的高密度,使得只用单一的IEEE1149标准来进行电路的自测试已经不能满足需要,在研究IEEE1149.1、.4和.5三种标准的差异性和组合应用准则的基础上,设计了融合三种标准进行混合信号多级扫描的方法。并通过实验平台的搭建与测试,验证了该方法的可行性,为数模混合量的检测以及多模块间的组合测试提供了实用参考。