基于DSP的混合信号测试中的进展

混合信号器件与电路板的测试仍然是一昂贵和费时的过程,因为必须同时具备数字和模拟测试设备。模拟测试存在的问题是,测试过程不象数字测试那样容易自动进行:必须为每一个新的被测器件(DUT)的每一个不同参数开发测试程序。 随着标准测试方法的发展,比如JTAG以及现在的IEEE1149,数字测试已取得进展。

一种提高数模混合信号测试精度的算法

文中论述了一种提高数模混合信号测试(基于DSP信号处理)精度的算法(以下称旋转数据算法),旋转数据算法是针对数模混合信号测试中异步采样的不连续性导致的频谱泄漏问题,而提出的消除频谱泄漏的算法。旋转数据算法的主要思想是:把数模混合电路的测试信号等效地看成由一个旋转向量在X轴上投影产生,当采样不连续时,采样数据经FFT变换后会产生频谱泄漏。通过适当地旋转向量,使不连续的采样连续,再利用这个向量旋转相位去修正采样数据,这样就解决了频谱泄漏问题。文中用VB程序实现了此算法,并讨论了在数模混合信号动态测试(SFDR、SNR、THD)中的应用。

PXI Express:支持高性能混合信号测试平台

PXI Express仪器利用其所使用的快速PCI总线，为PXI平台新添了许多技术优势。该总线至多个仪器系统的数据吞吐量高达2GB／s，并支持那些曾经只能通过定制硬件实现的应用。

P1149.4混合信号测试、总线综述

所推荐的IEEE标准设法改进混合信号设计和测试质量的可控性与可观察性。评论员将会很快估算出其投票结果。

混合信号测试的新挑战和新解决方案

从语音识别,智能化家电,手持式导航设备,到消费类和商务用产品,它们都受惠于创新的电子和机电产品的爆炸性增长。这些功能强大的智能产品极大地提高了内置的计算能力,而仅在几年以前这些功能还是难以想象的。家庭、汽车、办公室和工厂现在都已成为信息处理中心,甚至愚笨的家居设备也采用了模糊逻辑和自适应控制这类令人目眩的技术。

基于PXI Express的高速混合信号测试系统

PXI Express为PXI仪器平台增添了众多的技术优势，开辟了许多新兴测量领域。PXI Express仪器系统提供的高达2GB／s的数据吞吐量使得以前只能通过定制硬件或是昂贵的专用仪器才能实现的高速测量应用变为可能。

联华电子选择Agilent 93000 SOC系列测试仪——全球领先的半导体专工厂采用93000进行高速数字信号和混合信号测试

北京，2005年12月8日，安捷伦科技日前宣布，全球领先的半导体专工厂——联华电子（NYSE：UMC，TSE：2303）已经购买一部Agilent 93000 SOC系列测试仪，进行基于结构的高速数字信号和混合信号测试。联华电子将使用93000测试计算设备、PC和游戏控制台使用的大容量复杂SOC。93000系列能够扩容及测试广泛的一系列应用，帮助联华电子降低测试成本，加快其客户的产品开发周期。

混合信号测试挑战高 液晶电视研发生产环节待改善

从信号频率观点来看,液晶电视为射频和基带的混合信号系统;从信号型态观点来看,也不像通用IT产品为全数字信号,而是数字、模拟混合信号。电子信号完整性从最初电视系统芯片组的选择,到PCB Iayout乃至最后零部件组装各环节均有重大影响。本文即从电子信号测量的角度切入,就研发和生产两阶段所面临的技术问题详加讨论。

车载芯片的测试挑战——基于高性能混合信号测试系统的解决方案

随着近年汽车电子化进程的快速发展,对于核心车载芯片的多功能、高性能、低成本、高安全性的要求就变得越来越强烈。本文就使用高级混合信号测试系统来实现车载芯片的低成本和高可靠性的测试进行说明。

主流混合信号测试平台帮助中国测试公司 提高生产测试能力降低测试成本

推动中国组装/测试市场飞速发展的一个主要原因是全球范围内对量产的廉价的消费品的强烈需求。这些产品的例子包括蜂窝电话、DVD 播放器、笔记本电脑、PDA、无线和数据通讯设备、PC 中的图形芯片组、音频和 DSP 处理器。

混合信号测试的新挑战和HP54645D混合信号示波器

智能化技术的飞速发展使得产品设计师由通用的4bit微控制器转向功能更为强大的8bit微控制器。8bit器件在相同时钟速度下能传送两倍于4bit器件的数据,而其价格也已急速下降,在性能和经济角度都实际可行。然而,它也带来了紧迫的测试问题。

ASAT选择Agilent93000平台进行大批量混合信号测试

安捷伦科技公司日前宣布，ASAT股份有限公司已经选择配有Audio／Video8（A／V8）的Agilent93000 Pin Scale系统，在华南东莞新建的生产厂中测试大批量混合信号设备和数字设备。ASAT股份有限公司是全球著名的半导体组装、测试和封装设计服务厂商，也是中国领先的分包制造商之一。ASAT之所以选择93000PinScale系统，是因为该系统提供了杰出的扩充能力，并拥有灵活的测试仪资源结构。