运用32位高集成度混合信号MCU简化系统设计

ARMCortex核改变TMCU产品的传统形态，毕竟通用的标准有助于减少整体系统成本、降低设计复杂度并缩短开发时间。开发人员在为特定设计选择MCU时需考虑诸多因素，如存储大小、输入输出引脚数量、通信接口等。然而，在多种基于ARM标准内核的MCU产品都满足基本需求的情况下，

基于TDC的电缆长度测试系统

基于脉冲信号在电缆中传输的时域反射(TDR)原理,利用时间数字转换(TDC)技术,以C8051F系列单片机作主控制芯片,以图形化液晶和触摸屏作为测试系统的输出与输入,设计并实现了一种电缆长度测试系统。测试结果表明,该测试系统具有较高的测试准确度,可用于准确测量同轴电缆长度。