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设计混合讯号ASIC时考虑可测性
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作者 Donald Bartlett NCR Corp 徐执模 《微电子测试》 1994年第2期44-47,共4页
如果你不能够充分测试你设计的混合讯号的ASIC(专用集成电路),除了将会造成在现场穷于应付系统的失效之外,还要为进货检验花费高额费用,产品的交货期也会推迟,而且还要频繁地对产品进行工程支持。为了避免这些令人头疼的情况出现。在ASI... 如果你不能够充分测试你设计的混合讯号的ASIC(专用集成电路),除了将会造成在现场穷于应付系统的失效之外,还要为进货检验花费高额费用,产品的交货期也会推迟,而且还要频繁地对产品进行工程支持。为了避免这些令人头疼的情况出现。在ASIC内部需设置预防性设计以便使器件易于测试。 展开更多
关键词 专用集成电路 混合讯号 设计 可测性 集成电路
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