混合集成电路测试系统校准装置架构设计

为了实现针对混合集成电路测试系统的校准,论文详细分析了混合集成电路测试系统参量及各参量的校准原理,并提出了混合集成电路测试系统校准装置架构设计的方案。该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。

VXI数模混合集成电路测试系统

1、简介 《VXI数模混合集成电路测试系统》的开发，对于集成电路设计验证、集成电路测试都有着极其重要的意义。VXI总线测试系统由于其开放性、可扩展性及模块化结构使其应用广泛。该项目带动了国内集成电路测试仪器的产业化。通过该测试系统的开发、生产，必将满足大部分国内集成电路测试需求，替代国外同类测试系统，可节省大量外汇资源，在中高速测试系统中引入竞争，迫使国外中高档测试系统降价，将产生良、好的社会效益和经济效益。有利地促进我国集成电路产业的发展。

集成电路测试管理系统的设计与实现

阐述在集成电路生产中的测试管理系统设计,该系统能够实现对测试数据的存储和管理,支持数据分析和测试报告的生成,提供测试参数配置和测试流程管理功能。

集成电路综合自动测试系统硬件平台设计

针对当前国内集成电路产业快速发展的现状,通过分析集成电路测试需求,研制了国产超大规模集成电路综合自动测试系统硬件平台;首先设计了基于PXIe总线的硬件平台总体架构方案,其次研制了包含数字测试模块等高性能PXIe测试仪器,进一步构建了测试头等分系统并完成系统集成;采用高性能外部仪器和自检校准分系统,对硬件平台进行了指标测试;基于BM3110MPB开展了测试验证;验证结果表明,硬件平台数字测试单通道最高测试速率为1600 Mbps、DPS可实现最大输出电压12 V、最大输出电流800 mA,具备连接性测试、功能测试、直流参数与交流参数测试等功能;该硬件平台未来可有效满足国产超大规模集成电路测试需要。

集成电路芯片测试课程的混合式教学实践

阐述了《集成电路芯片测试》课程教学中,依托“智慧职教云课堂”网络教学平台,从教学设计与建设、组织实施及评价考核等方面研究探索线上线下混合式教学的建设思路与构建方法,总结实践经验与教学反思。《集成电路芯片测试》是高职院校微电子学院集成电路专业开设的一门专业基础课,目前国内高职院校关于集成电路测试的课程,内容多偏重于理论。传统的教学过程和教学方法使得高职学生对学习集成电路芯片测试的测试电路设计、测试工程建立以及测试代码开发等内容掌握不强,教学效果差强人意。造成这种结果的原因主要是高职学生的理论基础相对薄弱,而且将理论应用到实践过程的自主意识也不够。因此,需要根据高职教育的特点改进传统教学方法,将传统教学模式与互联网技术深度融合,进行线上线下混合式教学改革,激发学生们的学习兴趣,赋予他们更大的学习自主性和灵活性,最终提高学生对集成电路芯片的综合测试能力。

混合式教学模式中《集成电路芯片测试》课程评价指标体系的构建与应用研究

随着网络技术的高速发展,混合式教学模式已经成为高职教育的新模式。依托《集成电路芯片测试》课程,以“知识与技能”、“过程与方法”和“情感态度与价值”三个教学目标为导向,构建基于混合式学习模式的高职专业课程教学评价指标体系。教学实践后的调查数据显示,该课程评价指标体系能够实现过程性考核和终结性评价的有机结合,获得科学有效的教学反馈。

VXI数模混合信号集成电路测试系统

数模混合集成电路测试系统是当前我国的主流测试系统 ,本文以信息产业部电子信息产业发展基金重点招议标项目 (VXI数模混合集成电路测试系统研究开发及产业化 )为例进行了介绍。论述基于VXI总线的高速、高密度、多通道、低功耗新型ATEIC测试系统 ,介绍了系统的软硬件设计。详细论述了全面提高系统开放性、标准化的设计思想。

数模混合信号集成电路测试系统的同步策略

介绍了数字同步的触发类型,给出了标准总线和非标准总线条件下的同步触发方案.对数模混合信号集成电路测试系统的同步、测量仪器内部时钟周期与数字周期的同步、采样频率与输入信号频率的同步进行了分析,并给出了相关参数的约束关系.提出了解决数模混合信号集成电路测试系统同步问题的有效方案,使数模混合信号集成电路测试系统准确、稳定和可靠.

一种通用数字集成电路自动测试系统的设计与实现

基于PCI总线技术,设计并实现了一种通用数字集成电路自动测试系统。介绍了测试系统的硬件结构及其工作原理,主要包括逻辑功能测试、直流参数测试、交流参数测试以及控制电路等内容;论述了系统的软件设计思想,基于C++Builder集成开发平台,给出了文档编辑器、测试程序、编译器及数据库等主要软件部分的实现方法。实际应用表明,该系统测试精度高,可靠性好。

新一代大规模集成电路高温动态老化测试系统的研制

本文充分利用分布式网络控制、可编程ASIC技术及数据库技术 ,在我国第三代集成电路高温动态老化系统BTI2 0 0 0的基础上 ,研制开发了新一代大规模集成电路高温动态老化系统 。

集成电路测试系统的元件库的扩充方法

在维修电子设备时,或在制作调试电子设备时,常常需要对元器件的好坏进行判断.YB3118集成电路在线/离线测试系统就是配合电脑对TTL、CMOS、GAL、RAM、EPROM、CPU及可编程器件进行测试的仪器.本文主要对该系统的构成原理、技术性能进行了简单的介绍,并详细介绍扩充系统元件库的两种方法(可视化工具和DCTL语言建库).使读者深入地了解了本系统的使用,充分发挥系统的作用.

混合信号集成电路测试中的约束条件分析

对于混合信号集成电路来说,其模拟和数字部分之间存在相互关联,如模拟输出控制数字输入。为了测试出电路中的呆滞型故障,需要考虑对模拟输入的约束要求。本文根据被测电路的测试矢量集,分析混合信号集成电路测试中所需的限制条件并给出相应的模拟激励。

基于PCI总线的超大规模集成电路边界扫描测试系统

采用现场可编程门阵列 (FPGA)和PCI 90 5 2目标接口芯片 ,实现了符合PCI总线规范和IEEE 114 9 1标准的超大规模集成电路边界扫描测试系统 ,具有对系统级、PCB级和芯片级集成电路进行边界扫描测试的功能 ,结构简单、速度快。

基于测试与训练系统的大学英语混合教学模式研究

数字化网络时代催生了众多英语测试与训练系统,基于某省属地方本科院校大学英语课程,利用U校园等测试与训练平台,探究大学英语混合教学模式建构,打造符合新时代社会和学生发展需求的线上线下混合式立体化课程体系。学生成绩测试和问卷调查以及访谈表明,基于测试与训练系统的大学英语混合教学能够优化教学模式,做到靶向定位、精准教学,提升大学英语教学效果。

混合式教学在“集成电路测试与可测性设计”课程中的实践与探究

在"互联网+教育"的新时代背景和新工科所提出的高阶性和创新性要求下,如何激发教师与学生的积极性和创造力,进而有效提升"教"与"学"的效率,是教学改革迫切要解决的问题。在专业选修课"集成电路测试与可测性设计"课程中应用线上线下相结合的混合式教学策略,借助智慧教学工具"雨课堂",通过合理的教学设计、改进的教学评估方式、线上线下教学的交织和相互推进,教学效果获得明显提升。

基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的研究设计分析

基于ISO14443A协议的RFID集成电路芯片测试系统的设计研究对改善当前ATE的高成本、性能浪费等现象有积极意义。基于ISO14443A协议,利用RFID集成电路芯片设计了一个系统,从软硬件两个方面进行设计调试,并配合优化方案解决设计问题,最终结果表明设计系统运行效果佳,稳定性好,对于工业集成电路芯片测试系统的研究有一定价值。

贯彻MIL-STD-883C标准的集成电路老化测试系统

本文在介绍ＭＩＬ－ＳＴＤ－８８３Ｃ标准集成电路老化筛选试验方法的基础上，详细介绍了“ＰＩＣ－４集成电路高温动态老化实时测试系统”的设计过程，包括系统的总体结构、软硬件设计及其关键技术。

大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现

图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统。在此 ,采用可编程 ASIC技术成功实现了这一系统。在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时 ,极大地减小了系统的 PCB尺寸 ,首次实现了嵌入方式。

数字集成电路系统基本构成与测试技术研究

随着集成电路技术的飞速发展,集成电路的设计和制造也变得更加复杂。目前,数字集成电路系统成为研究的主流,并且在很多方面都表现出了较大的积极作用。相对而言,数字集成电路系统的优化速度较快,尤其是在基本构成和测试技术方面,会依据实际的需求而进行优化处理,满足客观工作的需求。在构成方面,需满足各个领域的要求。在测试技术方面,则要完成本质上的进步,确保数字集成电路系统可达到较多的功能效果,创造更大的价值。文章针对数字集成电路系统的基本构成、测试技术开展深入研究,健全工作体系。

智能集成电路快速测试系统

本文介绍了单片机构成的集成电路测试系统的硬件构成和编程技巧。该系统实现了测试时的自动转换量程、自动存储比较数据及显示测试结果等功能，量程范围和测试精度可由编程控制。