基于频移干涉数字混频法的 FBG解调方法

针对复合频移干涉系统可以通过相位来求解波长的特点,提出了基于频移干涉的数字混频FBG解调方法,并通过理论和实验进行了验证.该算法在解调过程中结合了频移干涉技术光栅准确定位的优势,提高了信号混频阶段本振信号与原始干涉信号频率的一致性,实现了干涉信号相位高精度解调.搭建了基于复合频移干涉结构的FBG传感系统,在仿真和实验测试中通过数字混频法准确解调出了干涉信号初始相位中包含的波长信息,对1.5 nm波长改变量的信号解调误差小于0.26%.同时进行了准动态信号的温度传感实验,具有较好的波长解调效果,在传感监测中具有一定的应用前景.

基于SHF信号采集和下混频技术的方波下局部放电测试方法

方波上升和下降沿处电场快速变化引起的位移电流和空间电磁波对局部放电(partial discharge,PD)的测量造成较大干扰。为此设计并检验了一种基于超高频(super high frequency,SHF,3~30 GHz)信号采集和下混频技术,适用于方波电场下绝缘系统的PD检测方法。系统性能测试验证了SHF混频法能有效抑制方波电源的干扰,混频信号在降低频率的同时也保留了原SHF信号幅值和相位信息,且系统可检测到视在放电量20 pC左右的PD,灵敏度较好。SHF混频法与脉冲电流法和UHF法的对比实验结果表明,SHF混频法适于检测发生在绝缘强度较高材料中放电速度较快的PD。所设计系统在方波下,对环氧树脂和灌封硅胶两种绝缘封装材料进行了PD对比实验,验证了其实用性。

半导体激光自混频干涉法测振动速度

应用半导体激光自混频干涉方法可研究物体的振动速度 .本文阐述了测速的基本原理 ,给出了信号分析的理论依据和计算方法 .

天线测试用的混频方法的正确选择

从事天线测试的设计师们有两种基本的混频方法可用。这两种方法是基波混频法和谐波混频法。它们在成本、灵敏度及抗射频干扰方面,各有优缺点。在整个射频(RF)范围内,基波混频的总性能最好,但谐波混频只需用频率较低的本振(LO)源。为了选择最适合于具体天线测试环境的技术,必须理解每种方法的错综复杂之点,以及它们与特定测试应用的关系如何。

用双混频时差法测量频率的相位差和频率稳定度

详细描述仪器的原理和最终达到的技术指标。

任意频点双混频时差测量方法及仪器的研究

介绍了采用双混频时差法研制的任意频点比对测量系统,媒介频标采用DDS代替了传统的调偏振荡器,采用双混频时差法原理,研发一种1~30 MHz频率范围内任意频点的时差、频差比对分析系统。系统比对测量频率1~30MHz,采样时间100 ms^106s;本底噪声(1 s)为5MHz/10MHz优于5×10-13,其他频点优于1×10-12。测量系统通过软件算法可以测量稳定度、准确度、相位差、老化率。

基于双混频时差法实现时域频率稳定度测量

在对基于DDS技术的公共振荡器设计、高速数据传输设计以及基于数字测频技术改进等技术难点分析的基础上,论述了基于双混频时差法的时域频率稳定度测量方法。该方法可同时测量短期和长期频率稳定度,测量精度高,并可进行无间隙测量。

用混频曲线法调试分米波发射机

我台用BT-10扫频仪,采用“混频曲线法”,成功地解决了分米波差转机发射变频小盒和末级腔体幅频特性曲线的调试,排除了腔体严重失谐,不能转发的故障。BT-10扫频仪由扫频信号发生器及显示器两大部份组成。

双混频时差测量系统的误差分析与试验研究

双混频时差测量系统的实际测量能力与公共频率源、混频器、过零检测器和时间间隔计数器等关键部件的特性息息相关。从双混频时差测量的原理入手,分析了各关键部件对系统本底噪声的影响,并搭建了试验平台,对影响系统本底噪声性能的因素进行了试验验证。试验结果表明,双混频时差测量系统的本底噪声与公共频率源的短期稳定度正相关,而与其长期稳定度没有直接关系。同时时间间隔计数器的读数值增大也将使得公共频率源的短期稳定度的影响进一步变大,因此需要通过一个移相器使计数器读数值保持在一个较小的范围内,以保证系统的本底噪声性能。

一种增强型PTP光纤级联精细时频同步方法

该文提出了一种增强型PTP光纤级联精细时频同步方法,该方法以PTP同步技术为基础,结合同步以太网时钟传递技术和基于数字双混频时差法的多级级联精细时钟同步技术,对PTP技术进行改进和增强,然后基于该方法,通过多级时频设备光纤级联的形式实现多节点、大跨度、网络化的时频信号传递与同步输出,并解决多级级联情况下同步精度会逐级恶化的问题,实现ns量级的系统时间同步精度,保证系统各环节在高度统一的时间尺度下进行高效同步与联动工作。通过设计、试验,验证了该方法的可行性和有效性。

双混频时差测量系统中公共源与阿仑方差精度

本文分析了双混频时差测量糸统公共源相位起伏对短期稳定度阿仑方差,测量精度的影响,推导出一般解析式.通过计算机辅助分析给出定量的结果。当测量时差△t与取样周期t之比的测量相对误差γ与r^2成正比;当公共源与被测源相位起伏相同即Sy_3(f)=Sy_1(f)=fα(α=0,±1,±2)和r=0.01,则γ<13％。实验测量系统证明了结论的正确性。

用铁电晶体四波混频的实时光学检测

对利用铁电晶体掺铁铌酸锂(LiNbO_3:Fe)作记录介质的简并四波混频干涉计量术进行了讨论,提出一种实时测量透明物体的折射率及面形分布不均匀性的实验原理及方法,分析了掺铁铌酸锂晶体在测量中的记录特性,并给出了测量平板玻璃样品的试验结果。

聚芳香杂环甲烯的三阶非线性光学效应与时间分辨光克尔效应(英文)

合成了一系列聚芳香杂环甲烯 ,包括聚吡咯甲烯和聚噻吩甲烯。采用四波混频法研究材料的共振三阶非线性光学效应 (λ =5 32nm) ,其共振二阶超分子极化率γ三阶非线性光学系数分别达到 10 - 3 0 esu和10 - 8esu 选择具有良好溶解性、成膜性的聚吡咯对二甲氨基苯甲烯 (PPDMAB) ,采用飞秒时间分辨光克尔效应方法研究材料的非共振三阶非线性光学效应 (λ =790nm) 实验表明 ,翠绿亚胺碱溶液的光克尔信号仅表现一超快响应的成分 ,归功于π电子云扭转产生的非共振激发 PPDMAB的非共振二阶超分子极化率γ三阶非线性光学系数分别达到γ =5 .78× 10 - 3 2 esu和 χ(3 ) =1.2 6× 10 - 10

偶氮掺杂PMMA薄膜的偏振全息光调制研究

使用简并四波混频方法 ,研究了施受体型偶氮苯衍生物掺杂聚甲基丙烯酸甲酯薄膜的实时偏振全息光存储性能和机制 ,研究了全息光栅的时间特性与入射光偏振态之间的关系 ,比较分子结构与材料的存储性能 .研究证明了在低功率下 ,材料具有高度敏感的三阶非线性和实时全息光存储能力 。

频率稳定度的测量

简单介绍了3种常用的测量短期频率稳定度的方法:差拍法,双混频法和频差倍增法,以及对于数据处理所采用的方法,并且在其中的差拍法和频差倍增法基础上提出一种改进的方法,从而可以提高整个系统的测量精度。

高精度原子钟频率稳定度测试仪的研制

扼要介绍了几种针对高精度频率源（氢钟）的频率稳定测试条件的工作原理及系统结构，并给出了部分指标，其中，双混频时差工法测试仪精度可达2×10^-13/s，周期法测试仪精度可达1×10^-13/s.

非线性超声检测技术的应用和发展

作为新型的超声检测手段,非线性超声检测技术因对微小缺陷有较高检测精度以及检测过程中不受材料外形影响等特点,受到众多学者的广泛关注。结合国内外学者的研究成果,文章介绍了高次谐波法与混频法两种检测方法的原理、应用以及优势等,对非线性检测技术的现状进行综述,并对其未来发展提出展望。

微裂纹检测与定位的非线性超声仿真分析

金属浅表层的微裂纹直接影响金属的性能和使用寿命,非线性超声检测方法对于浅表层微缺陷检测有较好的效果。本文针对钢材浅表层微缺陷检测和定位问题,通过有限元仿真的方式研究裂纹检测与定位的非线性超声规律。在有限元仿真软件COMSOL Multiphsics中建立包含表层裂纹的二维混频表面波检测模型,研究超声波与钢材表层裂纹引起的非线性效应,总结缺陷尺寸与边频信号振幅的变化关系,采用基于时频分析的异侧混频激励方案研究裂纹的定位。仿真结果表明,当金属表面存在裂纹时,检测点接收的回波信号中将出现和频及差频信号;边频信号的信号强度随着裂纹宽度增大而增强,随着检测距离的增大而衰减,随着裂纹深度增加呈现先增后减趋势;通过时频分析实现了表面裂纹的定位。采用激励频率分别为0.5 MHz和0.8MHz、基频幅值均为10^(-5)m的超声信号能够满足浅表面裂纹检测需求,实现浅表面深度为0.2~2 mm、宽度为5~30μm的裂纹检测,定位准确率为88%。研究结果为钢材浅表层微缺陷的非线性混频超声检测和定位提供了参考依据。

DDS——一种新型的频率合成技术(二)

ＤＤＳ的基本原理已在上一篇文章中作了介绍。本篇叙述利用ＤＤＳ技术设计的一些实用电路以及在通信产品中的应用。着重分析了ＤＤＳ／ＰＬＬ频率合成器的构成及其性能，为频率合成提供了一条新的途径。

频率稳定度的测试与分析

文章介绍了5120A，P07D．2，TF-01B三种在测试中常用的频率稳定度测试仪器及其测试原理，并使用这三种仪器对8257D及SMT-03两种信号源进行输出频率稳定度测试，验证了三种频率稳定度测试仪器的测量精度及其准确度。测量结果表明对于频率稳定度较高的源进行测量时，三种仪器测量结果相近，对于较差的信号源进行频率稳定度测量时，TSC5120A可即快速又准确的得到测试结果。