电子轰击型电荷耦合器件成像过程中的混频现象

本文研究和测量了电子轰击型电荷耦合器件 (EBCCD)的极限分辨力 ,得到了对不同频率条纹的成像规律。当采样频率大于Nyquist极限频率时发生混频现象 ,但仍可能有条纹出现 ,并由频谱分析进行了说明。通过对调制传递函数测量可以看到 ,EBCCD图像传感器对高于Nyquist频率的图案具有一定的传递特性 。