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Ⅱ代像增强器等效背景噪声特性的研究
1
作者
常本康
雷远清
+2 位作者
车晶
郭良
崔开源
《兵工学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期199-200,共2页
该文用 XPS分析了 MCP电极表面以及 代像增强器 MCP电极表面成份。结果表明 , 代像增强器 MCP电极表面碱金属与铅的含量达 9.69%。这是 代增强器等效背景噪声的主要来源。用加热器控制了 代像增强器制备过程中的碱金属流场和碱金属...
该文用 XPS分析了 MCP电极表面以及 代像增强器 MCP电极表面成份。结果表明 , 代像增强器 MCP电极表面碱金属与铅的含量达 9.69%。这是 代增强器等效背景噪声的主要来源。用加热器控制了 代像增强器制备过程中的碱金属流场和碱金属蒸气对 MCP的污染 ,从而使 代像增强器信噪比达 5.0
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关键词
光电阴极
电极表面
X射线光电子能谱
噪声特性
制备
温差法工艺
XPS
Ⅱ代像增强器
等效背景
下载PDF
职称材料
题名
Ⅱ代像增强器等效背景噪声特性的研究
1
作者
常本康
雷远清
车晶
郭良
崔开源
机构
南京理工大学电子工程与光电技术学院
云南光学仪器厂
南京旭光仪器厂
出处
《兵工学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第2期199-200,共2页
文摘
该文用 XPS分析了 MCP电极表面以及 代像增强器 MCP电极表面成份。结果表明 , 代像增强器 MCP电极表面碱金属与铅的含量达 9.69%。这是 代增强器等效背景噪声的主要来源。用加热器控制了 代像增强器制备过程中的碱金属流场和碱金属蒸气对 MCP的污染 ,从而使 代像增强器信噪比达 5.0
关键词
光电阴极
电极表面
X射线光电子能谱
噪声特性
制备
温差法工艺
XPS
Ⅱ代像增强器
等效背景
Keywords
photocathode,microchannel plate,electrode surface,X ray photoelectron spectroscopy
分类号
TN144 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
Ⅱ代像增强器等效背景噪声特性的研究
常本康
雷远清
车晶
郭良
崔开源
《兵工学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
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