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Ⅱ代像增强器等效背景噪声特性的研究
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作者 常本康 雷远清 +2 位作者 车晶 郭良 崔开源 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期199-200,共2页
该文用 XPS分析了 MCP电极表面以及 代像增强器 MCP电极表面成份。结果表明 , 代像增强器 MCP电极表面碱金属与铅的含量达 9.69%。这是 代增强器等效背景噪声的主要来源。用加热器控制了 代像增强器制备过程中的碱金属流场和碱金属... 该文用 XPS分析了 MCP电极表面以及 代像增强器 MCP电极表面成份。结果表明 , 代像增强器 MCP电极表面碱金属与铅的含量达 9.69%。这是 代增强器等效背景噪声的主要来源。用加热器控制了 代像增强器制备过程中的碱金属流场和碱金属蒸气对 MCP的污染 ,从而使 代像增强器信噪比达 5.0 展开更多
关键词 光电阴极 电极表面 X射线光电子能谱 噪声特性 制备 温差法工艺 XPS Ⅱ代像增强器 等效背景
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