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简易元器件温度测试箱设计
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作者 孙保良 邢福成 黄盛林 《电子测量技术》 2001年第3期22-23,共2页
文中介绍一种用于元器件温度筛选测试箱的设计方法。并给出系统硬件设计和软件设计。
关键词 单片机 温度测试箱 电子元器件
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