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随机温度调制DSC技术TOPEM的理论和应用 被引量:9
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作者 陆立明 《高分子通报》 CAS CSCD 北大核心 2009年第3期62-74,共13页
介绍一种称作TOPEM的温度调制差示扫描量热技术[1],由瑞士梅特勒-托利多公司开发。该技术基于随机温度调制,是一般温度调制DSC理论的结果。无需进一步校准,在单次实验中就能测定准稳态比热和宽频范围的频率依赖的复合比热。而且,从测试... 介绍一种称作TOPEM的温度调制差示扫描量热技术[1],由瑞士梅特勒-托利多公司开发。该技术基于随机温度调制,是一般温度调制DSC理论的结果。无需进一步校准,在单次实验中就能测定准稳态比热和宽频范围的频率依赖的复合比热。而且,从测试的数据可直接测定可逆和不可逆热流,并可从热力学上将这两个热流分别与显热流和潜热流相关联。应用实例显示了TOPEM实验的线性行为测试和稳态测试(一致性检查)、玻璃化转变的频率依赖性、热固性树脂的等温固化、固-固转变、可逆熔融和不可逆熔融等。 展开更多
关键词 温度调制dsc 随机温度调制 比热 TOPEM
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