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基于函数切片的插装优化在软件测试中的应用
被引量:
1
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作者
刘永恒
胡璇
《电子产品可靠性与环境试验》
2013年第A01期155-159,共5页
首先对插装技术的基本理论和方法进行了介绍,指出了传统的插装方法应用在嵌入式软件逻辑覆盖测试中所面临的问题;然后针对插装后代码的膨胀情况,提出一种基于函数切片的插装优化方法,在使用同样测试工具的情况下,优化了插装程序的执行效...
首先对插装技术的基本理论和方法进行了介绍,指出了传统的插装方法应用在嵌入式软件逻辑覆盖测试中所面临的问题;然后针对插装后代码的膨胀情况,提出一种基于函数切片的插装优化方法,在使用同样测试工具的情况下,优化了插装程序的执行效率;最后通过实验验证了该方法的有效性。
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关键词
源代码覆盖
嵌入式软件
函数切片
逻辑
覆盖
测试
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职称材料
题名
基于函数切片的插装优化在软件测试中的应用
被引量:
1
1
作者
刘永恒
胡璇
机构
工业和信息化部电子第五研究所
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2013年第A01期155-159,共5页
文摘
首先对插装技术的基本理论和方法进行了介绍,指出了传统的插装方法应用在嵌入式软件逻辑覆盖测试中所面临的问题;然后针对插装后代码的膨胀情况,提出一种基于函数切片的插装优化方法,在使用同样测试工具的情况下,优化了插装程序的执行效率;最后通过实验验证了该方法的有效性。
关键词
源代码覆盖
嵌入式软件
函数切片
逻辑
覆盖
测试
Keywords
source code coverage
embedded software
function slice
dynamic coverage test
分类号
TP311.53 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于函数切片的插装优化在软件测试中的应用
刘永恒
胡璇
《电子产品可靠性与环境试验》
2013
1
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