滑尺技术改善数字多道微分非线性

为了改善数字多道系统的微分非线性,进一步提升系统的分析精度,在数字多道电路中植入滑尺技术,通过实际测试研究了滑尺技术对系统微分非线性的改善效果。结果表明,使用滑尺技术后系统的微分非线性得到明显改善,在滑移64道时系统的微分非线性由2.7%提高到1.1%。

粉末中子衍射谱仪数据采集与处理系统

针对高分辨粉末中子衍射谱仪,采用现场可编程门阵列(FPGA)和C8051F060芯片实现了中子衍射数据采集与处理系统的设计;系统可对64路不同方向的中子同时进行计数,获得测量粉末样品的中子衍射谱;同时,为了获得多路计数器良好的一致性,系统利用C8051F060自身集成的ADC模块复用于64路中子多道脉冲幅度分析进行多路标定;实验表明:该系统能够准确地对64路衍射中子信号进行计数,每路计数率最高为106,具有较高的应用价值。