聚合物光纤滤模器的研究

对聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)芯聚合物光纤的临界弯曲半径进行了测试,利用光栅单色仪对采用不同尺寸滤模器的光纤出射光谱进行了测量。结果表明,PMMA芯聚合物光纤滤模器设计的最佳尺寸为半径1.5cm左右,且光纤缠绕圈数对滤模效果影响不大。

弯曲不敏感光纤1310nm处模场直径测试方法研究

G.657.A2是一种优化了抗弯性能的全谱单模光纤,和传统的G.657.A1弯曲改善型单模光纤相比,它大幅提升了光纤的抗弯表现。由于这种光纤的性能满足ITU-T G.657.A2标准,同时完全符合ITU-T G.652.D标准,与已经广泛铺设的G.652标准单模光纤能无缝兼容,目前在国内FTTH的建设中得到广泛的应用。但在测试弯曲损耗不敏感G.657.A2光纤1310nm处模场直径时,特别是测宏弯性能优异的G.657.A2光纤时,如果仍然采用针对传统标准G 652光纤测试条件:即在2m试样光纤上绕一半径为30mm圈作为高阶模的滤模器,并不总能有效滤除高阶模,当高阶模未完全滤除时,会出现测试光纤的模场直径比其真实的模场直径偏小的现象。本文通过试验的方法研究分析了高阶模对模场直径的影响和可能的消除办法,多个试验结果表明:图1b和图1c所示两种测试方法完全能够满足国家标准、国际标准的测试要求,且两种方法测试模场直径的均值无显著差异(p<0.05)。由于G.657.A2光纤标准要求λ_(cc)≤1260nm,可以保证22m光纤或光缆试样的"对应截止波长"≤1260nm,故用图1c条件可测得正确的1310nm处MFD值。

弯曲损耗不敏感单模光纤1310nm处模场直径测试方法比对分析

本文通过实验的方法分析研究了不同高阶模滤除条件对ITU-T G.657.A2、A3和ITU-T G.657.B3类光纤模场直径测量结果的影响。实验表明,采用22m试样光纤的测试条件或采用将2m标准的G.652光纤熔接在2mG.657试样光纤上,并在标准的G.652光纤上绕两个40mm半径圈的测试条件均可以准确测试G.657.A类包括A3类和G.657.B类光纤在1310nm处的模场直径。采用其他不同的弯曲半径或通过绕更多圈的滤除高阶模的方法并不总能够有效滤除G.657.A类包括A3类和G.657.B类2m试样光纤中的高阶模。特别是弯曲性能好且λc≥1310nm的G.657光纤,1310nm处模场直径测试的结果会受高阶模影响,并导致实测值比正确值偏小。为了避免高阶模的影响,推荐采用22m试样光纤测试条件或采用将2mG.652光纤熔接在2mG.657试样光纤上,并在G.652光纤上绕两个40mm半径圈的测试条件测试G.657光纤1310nm处模场直径。