用一种新型滤波荧光谱仪测量X光辐射温度

阐述了滤波荧光法测量 X光能谱的原理 ,介绍了一种新型的双光栏、5通道滤波荧光谱仪的设计思想和几何结构 ,给出了用数值计算方法优化设计的谱仪参数 ,展示了用罗斯平衡定则原理设计的新型单通道滤波荧光谱仪提高信噪比的结果 ,给出了谱仪的应用结果。

用于超热电子诊断的滤波荧光谱仪滤片厚度的优化设计

根据物质的吸收系数、散射截面、荧光截面的离散数据进行了二维插值,利用插值后的数据对前置滤片透射率、荧光体吸收截面、后置滤片透射率进行拟合,用文献[2]的滤波荧光谱仪的总响应函数(荧光响应函数和散射响应函数)以及探测器灵敏度和散射光、荧光光子数,对前置滤片、荧光片和后置滤片的不同厚度进行优化设计,得到了最大信噪比(荧光响应函数曲线的峰值面积与总响应函数面积的比值)及最大信噪比对应的前置滤片、荧光片、后置滤片厚度。在滤波荧光谱仪上应用优化厚度,减少了高能尾部对探测信号的影响,得到更加有效的硬X射线能谱,继而推算出更加精确超热电子信息。

滤波-荧光谱仪的优化设计

滤波-荧光法是一种重要的X射线诊断技术,对于温度为1.4×107—1.6×107K的黑体辐射,设计了包含V-Ti,Co-Fe,Cu-Ni和Zn-Cu四个组合的滤波-荧光谱仪,信号测量通道增加了相应本底测量辅助通道.计算结果表明,采用与信号通道相同设置的辅助通道测量效果不佳,需要对辅助通道后滤片进行重新设置以确保对本底的正确测量.