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题名积累氦质谱组合检测中防止漏检的方法
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作者
王庚林
李宁博
董立军
李飞
刘永敏
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机构
北京市科通电子继电器总厂有限公司
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出处
《中国电子科学研究院学报》
北大核心
2016年第4期407-416,共10页
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文摘
作者在积累氦质谱组合检测中发现存在粗漏漏检现象,美国宇航局2013年2014年的研究报告揭示,各种组合检测复测中均存在粗漏细漏漏检现象。文章对积累氦质谱组合检测和氩粗漏氦细漏组合检测的粗漏检测,提出了确定最长粗漏检测时间的方法;对这两种组合检测和氦质谱检测的细漏检测,综合给出了定量确定和拓展细漏检测最长候检时间的方法,论证了压氦压力不应小于2倍的大气压力,提出了确定预充氦法和预充氦氩法最小候检时间的方法,提出了确定最长细漏检测时间的方法,从而可减少和防止粗漏和细漏漏检;并通过对美国宇航局报告中实例的分析,验证了以上方法的有效性。同时指出漏孔堵塞是造成漏检的原因之一,但不是形成微型元器件高比率漏检的主要原因。
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关键词
密封性检测
积累氦质谱
粗漏检测
细漏检测
漏检
漏孔堵塞
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Keywords
Hermeticity test
accumulative helium mass spectrometry
gross-leak test
fine-leak test
detection missing
the leak blocking
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分类号
TB774.3
[一般工业技术—真空技术]
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