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新一代的激光测漏系统讯程
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作者 (Kimpsion Corporation) 《电子质量》 2004年第7期62-64,共3页
本文介绍新一代的激光测漏系统,运用激光全息术的原理来测漏,是一种非破坏性量测方式, 且完全免除上述传统测漏法的所有缺点。
关键词 激光测漏系统 激光全息术 MIL-STD-883E 质谱仪
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