衍射式激光测粒仪光靶能量的数值计算

本文对衍射式激光测粒仪光靶能量的分布公式作了详细分析,指出目前的测粒仪在光能计算时存在的缺点,并提出一种改进的计算光靶能量的数值方法,实际计算表明,这种方法能提高小尺寸颗粒的求解精度。

FAM激光测粒仪及其应用

本文根据颗粒的光散射原理,提出了综合应用Fraunhofer衍射理论和Mie散射理论的FAM激光测粒仪。在讨论工作原理的基础上,文章给出了激光测粒仪对各种粉末颗粒和液滴样品所做的测量结果。实测表明:所研制的FAM激光测粒仪具有测量精度高,应用范围广等特点,适用于各种两相介质中的粉末粒度和液滴大小的测量。

FAM激光测粒仪

本文讨论了各种衍射式激光测粒仪在理论上的局限性,并设法加以改进和提高,从而发展了综合利用夫琅和弗衍射和米氏散射理论的激光测粒仪(FAM激光测粒仪),经对比性实测表明,其性能较国外的衍射式测粒仪有了明显的提高。

基于米氏散射及夫朗和费衍射的FAM激光测粒仪

提出了综合运用夫朗和费衍射和米氏散射，即在大粒径范围内采用夫朗和费衍射理论，而在小粒径范围内采用米氏散射理论，来改善小粒径范围内的测量精度，保证激光测粒仪在整个粒径范围内的测量精度。

激光测粒仪的散射理论研究

:研究设计了激光测粒仪———一种利用光学散射原理测量颗粒大小的近代光学测量仪器。本文首先介绍了激光测粒仪的工作原理 ,然后分析了它的衍射、散射理论模型和Mie散射理论模型 。

小角前向散射激光测粒仪中折射率对测量结果的影响

在经典Mie散射理论基础上,利用POWELL反演方法研究了小角前向散射激光测粒仪中输入折射率对测量结果的影响。对于输入折射率与待测颗粒实际折射率没有偏差的情况,数据处理导致的测量误差在0.002%之内;而对于两者存在偏差的情况,当输入折射率在(2.0,4.0)范围内时数据处理误差较小,输入折射率在(1.1,2.0)范围内时数据处理误差显然较大。从而得到结论:在测量过程中应尽可能输入与颗粒实际折射率一致的数值;当无法确知颗粒实际折射率时,比较可靠的办法是适当选择一个大于2.

关于小角前向散射激光测粒仪准则数X的讨论

在激光测粒仪的设计和数据处理过程中，都采用了无因次准则数Ｘ＝１．３５７。之后，为了降低激光测粒仪的测量下限，经典的Ｍｉｅ散射理论在激光测粒仪的设计中得到了应用。讨论了在利用Ｍｉｅ光散射理论时，无因次准则数Ｘ的取值及其影响因素。

扩展激光测粒仪测量下限的一种计算方法

本文提出一种求亚微米级颗粒尺寸分布的计算方法,数值计算及实测表明,这种方法能有效地将激光测粒仪的测量下限扩展至0.1μm。

确定激光粒度仪光电探测器的响应系数的方法

在激光测粒仪中，光电探测器各环的响应系数对仪器的测量精度有着十分重要的影响。本文提出一种采用一组尺寸不同的标准颗粒为标定试样，通过比较其在光电探测器各环上的理论光能与实测光能，来综合出光电探测器各环响应系数的方法。

小角前向散射测粒仪光电探测元件的对中问题

利用经典Ｍｉｅ散射理论，讨论了小角前向散射激光测粒仪光电探测器对中问题导致的测量误差；提出了一种对中误差计算模型，据此进行模拟计算，并对计算结果进行了分析讨论。

激光测量

TL659 99020943激光等离子体时、空、能三维分辨测试系统=A 3D— resolution measuring system for laser producedplasmas[刊,中]/成金秀,温天舒,杨存榜,郑志坚(中物院核物理与化学研究所.四川,成都(610003)),付绍军,洪义麟(中国科技大学合肥国家同步辐射实验室.合肥,安徽(230026))∥中国科学A辑.—1998,28(1).—85-89介绍了激光等离子体时间、空间、能谱三维分辨测试系统的结构、原理和性能,并给出了利用该系统在实验中获得的典型结果。图5表6参3(方舟)

稳态光散射法测粒下限及其影响因素的讨论

在经典Ｍｉｅ散射理论基础上，讨论全方位稳态光散射法激光测粒仪测量粒径的下限及其影响因素，认为通过减小激光测粒仪的系统误差和增大探测的散射角范围，可降低测粒仪的测量下限．

确定光电探测器线性响应系数的一种新方法

在激光粒度分析仪中，光电探测器各环对光强的线性响应能力常具有一定的分散性，通过数学方法校正各环的响应能力，使其具有同一性，对提高仪器的测量精度有着十分重要的意义．本文提出一种确定光电探测器各环动态响应校正系数的新方法．

减少测粒仪光靶环数提高颗粒尺寸求解速度

本文指出当采用函数限制解法求解颗粒尺寸分布时,仅用光靶上的少数几个环就能确定分布函数,而且得到与原来(15个环)相同的可测粒径范围和对颗粒尺寸变化的灵敏度,文中对此进行了理论分析和计算机模拟计算,并给出了对标准颗粒的实测结果。

求解多峰颗粒尺寸分布的一种反计算方法

提出一种用于激光测粒仪求解多峰颗粒尺寸分布的反计算方法,本方法是改进的LMS算法 与多峰分布模式算法的组合算法。大量的计算机模拟计算和对标准颗粒的实测证实了这种算法的有效性和实用性。

光学分析仪器

TH744.4 96010679一种新颖的颗粒粒度分析仪—消光式测粒仪=Anew kind of partical sizer:Particle sizer withmultiwavelength light[刊,中]/郑刚,张志伟,蔡小舒,王乃宁(华东工业大学)∥仪器仪表学报。—

一种新的散射光能谱法测量颗粒粒径的方法

基于光散射原理，提出了一种新的测量颗粒粒径大小及分布的方法。与传统的光散射式激光测粒仪不同，本方法以白色光为光源，仅采集一个空间立体角内的散射光能信号，经反演算后求得被测颗粒的粒径及其分布。给出了这一方法的理论分析、数值模拟以及实验研究。