多通道数字集成芯片缺陷的线激光锁相热成像检测

当前检测多通道数字集成芯片缺陷时,存在清晰度低、疲劳极限精度低以及检测精度低的问题,提出多通道数字集成芯片缺陷的线激光锁相热成像检测方法。利用可视化算法,通过激光锁相热成像方法采集多通道数字集成芯片图像,采用Holder指数运算锁相幅度图像中所有断连的图像,利用激光扫描再次进行图像成像处理,通过主成分分析法提取不连续图像的特征,实现芯片缺陷的检测。结果表明,本方法在第10秒完成清晰成像,疲劳极限精度较高,对芯片进行缺陷检测的精度最高,证明了本方法在实际应用中具有较好的实用性。

注入锁定对激光锁相环性能的影响

本文研究了注入锁定对半导体激光锁相环性能的影响,给出了注入锁定半导体激光器作为激光锁相环本振的相位传递函数及激光锁相环的噪声特性.

基于光学零差偏振探测和锁相的合束激光偏振控制

激光偏振合束是提升窄线宽光纤激光亮度的重要技术,能实现多路激光的共孔径合束输出,同时维持较高的光束质量和线偏振态。文中探索和研究了基于线性锁相技术的合束激光偏振控制系统,详细分析和建立了光零差偏振检测物理模型和线性锁相控制环路的数学模型。利用高精度的光零差技术对合束激光的偏振相位进行检测,并通过快速实时反馈进行激光锁相,获得了输出功率为279 m W的线偏振态激光。锁相控制后,合束激光的偏振消光比达到19.3 dB,控制带宽高达39.6 kHz,剩余相位噪声为7×10^(-4) rad/Hz^(1/2)(1 Hz)和3×10^(-4)rad/Hz^(1/2)。当提高激光输出总功率达1 W时,偏振消光比维持在~15 dB,其限制因素在于光功率波动引入的相位噪声和光斑空间模式不匹配。

阵列激光器主动锁相技术研究

为了获取高能量、高光束质量的激光输出,通过对激光的统计性质进行研究,提出了一种新型的阵列锁相技术,即利用一个控制系统,以外界介入的方式控制阵列激光的相位,对激光相位进行校正,减小或消激光位相随机漂移,实现阵列激光独立单元间的位相锁定,保证良好的互相干特性。利用随机过程理论,详细分析了几种情况下激光的时间相干特性,根据各种情况下相干特性的比较结果得知,该锁相系统大大改善了激光之间的互相干特性。

激光线宽对光学锁相环锁相效果的影响

为了获得利于相干合成的具有高相干性的单元光束,可利用光学锁相环(OPLL)来实现本振激光的相位锁定。推导了锁相后激光复振幅的互相关函数表达式,并以此评价锁相后光束间的相干性。具体计算了参考光线宽、时间常数和本振激光线宽差对互相关函数值的影响。定义与本振激光线宽差相关的评价参数M,以此表征当其他参数一定时本振激光线宽差对锁相后激光相干性的影响。进一步针对本振激光线宽不一致对锁相效果的影响进行详细分析,得到相关参数合理值范围的计算公式。结果表明对于不同的本振激光线宽差范围需要设计不同的OPLL系统时间常数来实现有效锁相。

锁相激光列阵的自成像补偿法孔径装填

锁相激光列阵产生多旁瓣的远场衍射花斑,本文提出了用列阵的Talbot衍射自成像转化为等幅相位分布的概念,并用相位补偿使旁瓣能量转移到主光瓣,实现了孔径装填.