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氧化物激光薄膜的离子束溅射制备技术
被引量:
6
1
作者
申林
熊胜明
+2 位作者
刘洪祥
李凌辉
张云洞
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第12期1175-1180,共6页
研究了由Ta2O5和SiO2组成的多层氧化物激光薄膜的双离子束溅射制备工艺。简要介绍了离子束溅射技术的基本工作原理和应用,着重分析了薄膜厚度均匀性的调控方法。先后得到了Ta2O5和SiO2单层薄膜厚度均匀性调控结果以及不同波长处薄膜...
研究了由Ta2O5和SiO2组成的多层氧化物激光薄膜的双离子束溅射制备工艺。简要介绍了离子束溅射技术的基本工作原理和应用,着重分析了薄膜厚度均匀性的调控方法。先后得到了Ta2O5和SiO2单层薄膜厚度均匀性调控结果以及不同波长处薄膜折射率,并定性地分析比较了离子束溅射和电子束蒸发制备的薄膜结构;制备并测试了633nm,1315nm反射薄膜以及增透膜。结果表明:采用离子束溅射技术能够制备出优良的、满足需要的激光高反射薄膜元件。
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关键词
离子束溅射
厚度均匀性
激光高反射薄膜
增透膜
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职称材料
题名
氧化物激光薄膜的离子束溅射制备技术
被引量:
6
1
作者
申林
熊胜明
刘洪祥
李凌辉
张云洞
机构
中国科学院光电技术研究所
出处
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第12期1175-1180,共6页
基金
国家863计划项目资助课题
文摘
研究了由Ta2O5和SiO2组成的多层氧化物激光薄膜的双离子束溅射制备工艺。简要介绍了离子束溅射技术的基本工作原理和应用,着重分析了薄膜厚度均匀性的调控方法。先后得到了Ta2O5和SiO2单层薄膜厚度均匀性调控结果以及不同波长处薄膜折射率,并定性地分析比较了离子束溅射和电子束蒸发制备的薄膜结构;制备并测试了633nm,1315nm反射薄膜以及增透膜。结果表明:采用离子束溅射技术能够制备出优良的、满足需要的激光高反射薄膜元件。
关键词
离子束溅射
厚度均匀性
激光高反射薄膜
增透膜
Keywords
Ion-beams sputtering
Uniformity of layer thickness
High laser reflecivity coatings
AR coatings
分类号
TN244 [电子电信—物理电子学]
O484 [理学—固体物理]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
氧化物激光薄膜的离子束溅射制备技术
申林
熊胜明
刘洪祥
李凌辉
张云洞
《强激光与粒子束》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003
6
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