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题名T2000面向不同测试需求的灵活对应
被引量:2
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作者
张可
王春宇
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机构
爱德万测试(苏州)有限公司
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出处
《中国集成电路》
2010年第3期69-72,共4页
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文摘
随着半导体集成电路产业的迅猛发展,IC的集成度越来越高,这就使得IC的功能越来越复杂。因此对于半导体集成电路测试设备在灵活配置性、可升级性以及低成本性方面的要求也越来越高。Advantest的T2000作为新一代的半导体测试系统,针对不同的测试需求均有灵活的对应方式。
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关键词
T2000
灵活构架
Multi-SiteC控制
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分类号
TN407
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名中控SmartEIO产品在某装置中的应用
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作者
孙利勇
沈贤瑞
卢科积
陈文冲
李光辉
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机构
浙江中控技术股份有限公司
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出处
《中文科技期刊数据库(文摘版)工程技术》
2023年第9期73-75,共3页
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文摘
在数字化转型升级的大浪潮下,集散控制系统既要满足客户对于稳定、可靠的基础要求,又要迎接工业互联网、人工智能、大数据、5G等新技术持续应用的挑战和机遇,对控制系统的开放性、智能化、灵活性和可维护性提出了更高要求,从而能更好地支撑工厂生产运行的智能管控。基于中控SmartEIO控制系统在某染料装置项目中的应用,染料装置基于节能减排、自控安全提升、减员增效等战略前提下进行的改造项目,要求尽可能降低项目成本,中控SmartEIO产品灵活多变的网络构架方案,与常规控制系统混合使用,客户可以根据现场实际情况作出最有利的选择,满足客户现场实际需求。
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关键词
SmartEIO
灵活多变的网络构架
降低项目成本
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分类号
TP273
[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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