微波辐照对iPP在Al/iPP/Al界面层残余应力的影响

采用薄膜X射线衍射(TF-XRD)方法研究了微波辐照后Al/iPP/Al夹心材料中iPP界面宏观残余应力,微观应力和点阵静畸变应力的变化,结果表明,微波辐照后iPP的宏观残余张应力减小。垂直于[300]晶面(β晶形)的晶粒尺寸增大,β晶形生长趋于完善,晶格微观畸变减小,微观应力减小,α晶形微观应力增大。β晶形的点阵静畸变应力和应力能量小于α晶形,这是引起α→β晶形转变的主要原因。