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快速烧银工艺──ZnO压敏电阻器银电极制备 被引量:1
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作者 史利民 《电子元件与材料》 CAS CSCD 1995年第4期60-62,共3页
对MYD-7K820氧化锌压敏电阻瓷片银电极制备工艺进行了研究,介绍一种快速烧银工艺,不仅可提高生产效率,还有效改善产品可靠性,降低生产成本。
关键词 压敏电阻器 电极 烧银工艺 氧化锌
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氧化锌压敏陶瓷银电极还原工艺研究 被引量:1
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作者 贾广平 严联莹 +2 位作者 郭亚平 李梁 谷志奇 《电瓷避雷器》 CAS 北大核心 1997年第4期33-36,共4页
通过试验,分析了烧银制度(烧银温度、保温时间)与压敏电阻(高、低压压敏电阻)电性能之间的关系;阐述了适当提高烧银温度和延长保温时间,对改善和稳定压敏电阻综合性能有较好效果。
关键词 氧化锌 压敏电阻 电极 烧银工艺 压敏陶瓷
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PMSZT压电陶瓷的制备工艺研究
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作者 罗云飞 陆翠敏 +1 位作者 孙清池 徐明霞 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2006年第2期212-214,226,共4页
研究了合成工艺、烧结工艺、烧银工艺及极化工艺对PMSZT压电陶瓷相组成、显微结构及电性能的影响。结果表明,PZT压电陶瓷在合成温度为900℃时,可得钙钛矿结构;烧结温度1 240℃时,体积密度最大,综合性能达最佳。烧银温度对陶瓷性能有一... 研究了合成工艺、烧结工艺、烧银工艺及极化工艺对PMSZT压电陶瓷相组成、显微结构及电性能的影响。结果表明,PZT压电陶瓷在合成温度为900℃时,可得钙钛矿结构;烧结温度1 240℃时,体积密度最大,综合性能达最佳。烧银温度对陶瓷性能有一定影响。随着烧银温度的升高,介电常数、介电损耗、压电常数和机电耦和系数降低。最佳极化工艺为极化温度120℃,极化电压2 500 V/mm。 展开更多
关键词 合成工艺 工艺 烧银工艺 极化工艺 压电陶瓷
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MLCI端电极缺陷引起的立碑问题研究
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作者 张育龙 施威 +1 位作者 王胜刚 杨邦朝 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2014年第12期86-88,共3页
针对叠层片式电感器(MLCI)在回流焊过程中发生的立碑现象,通过对正常样品与立碑样品的SEM显微观察和对比分析,论述了MLCI本身缺陷引起的焊接立碑机理。结果表明:MLCI端电极内部银层不致密、孔洞多导致了元件回流焊时产生立碑。最后通过... 针对叠层片式电感器(MLCI)在回流焊过程中发生的立碑现象,通过对正常样品与立碑样品的SEM显微观察和对比分析,论述了MLCI本身缺陷引起的焊接立碑机理。结果表明:MLCI端电极内部银层不致密、孔洞多导致了元件回流焊时产生立碑。最后通过生产实例提出了一个解决此问题的方案。 展开更多
关键词 MLCI 立碑 回流焊 端电极 烧银工艺
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电子元件、组件
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《中国无线电电子学文摘》 1995年第6期59-65,共7页
关键词 电子元件 压敏电阻器 产品可靠性 烧银工艺 电子技术应用 电阻率 中国科学院 ZnO陶瓷线性电阻 氧化锌压敏电阻 可调范围
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