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题名用于红外焦平面阵列非均匀性校正的辐射参考源
被引量:1
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作者
金明磊
金伟其
刘崇亮
范永杰
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机构
北京理工大学光电学院"光电成像技术与系统"教育部重点实验室
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出处
《红外技术》
CSCD
北大核心
2012年第7期383-388,共6页
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基金
国家自然科学基金项目(60877060)
十一五总装预研项目(404050301)
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文摘
概述了4种红外焦平面阵列非均匀性过程中使用到的参考源。成为产品前,通常使用面源黑体作为参考源对红外焦平面阵列进行非均匀性校正;在热成像系统应用中动态非均匀性校正中,普遍使用的辐射挡板由于没有连有控温装置,只能进行一点校正,在场景温度偏离校正温度时,校正效果会受到影响;美国第三代前视红外成像系统中使用连有热电制冷器的热电参考源,利用热电制冷器对发射表面进行控温,可实现两点校正算法;为基于边框的SBNUC校正算法设计的U型边框黑体光阑,对视场中心没有遮挡,利用半导体制冷器对U型边框黑体光阑的进行控温,能根据场景信息自适应地实现的两点校正。
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关键词
非均匀性校正
面源黑体
辐射挡板
热电参考源
U型边框黑体
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Keywords
non-uniformity correction (NUC), surface blackbody, radiation shield, thermoelectric thermalreference sources(TTRS), virtual perimeter diaphragm strips
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分类号
TN219
[电子电信—物理电子学]
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