期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式：
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
美开发出用于探测集成电路缺陷的新技术
1
《电子元器件应用》
2003年第6期69-69,共1页
关键词
美国
光束故障分析技术
集成电路
工作原理
塞贝克效应成像
热致电压
下载PDF
职称材料
题名
美开发出用于探测集成电路缺陷的新技术
1
出处
《电子元器件应用》
2003年第6期69-69,共1页
关键词
美国
光束故障分析技术
集成电路
工作原理
塞贝克效应成像
热致电压
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
美开发出用于探测集成电路缺陷的新技术
《电子元器件应用》
2003
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
