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低损耗193nm增透膜
被引量:
9
1
作者
尚淑珍
邵建达
范正修
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期1946-1950,共5页
计算了适用于193nm增透膜设计与制备的基底与薄膜材料的光学常数,并在此基础上对193nm增透膜进行了设计、制备与性能分析.发现基底材料的吸收损耗对增透膜元件的影响很大,超过一定值时,增透膜元件的设计透过率将达不到理想水平.对单面...
计算了适用于193nm增透膜设计与制备的基底与薄膜材料的光学常数,并在此基础上对193nm增透膜进行了设计、制备与性能分析.发现基底材料的吸收损耗对增透膜元件的影响很大,超过一定值时,增透膜元件的设计透过率将达不到理想水平.对单面增透膜的设计与制备结果表明,当吸收损耗降低到一定程度,散射损耗成为不可忽略的因素.采用热舟蒸发方法实现了性能良好的193nm减反射膜,剩余反射率在0.2%以下.
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关键词
193nm增透膜
光学损耗
剩余反射率
设计
热舟蒸发方法
原文传递
题名
低损耗193nm增透膜
被引量:
9
1
作者
尚淑珍
邵建达
范正修
机构
华东理工大学机械与动力工程学院承压系统安全科学教育部重点实验室
中国科学院上海光学精密机械研究所
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第3期1946-1950,共5页
基金
上海市重点学科建设项目(批准号:B503)资助的课题~~
文摘
计算了适用于193nm增透膜设计与制备的基底与薄膜材料的光学常数,并在此基础上对193nm增透膜进行了设计、制备与性能分析.发现基底材料的吸收损耗对增透膜元件的影响很大,超过一定值时,增透膜元件的设计透过率将达不到理想水平.对单面增透膜的设计与制备结果表明,当吸收损耗降低到一定程度,散射损耗成为不可忽略的因素.采用热舟蒸发方法实现了性能良好的193nm减反射膜,剩余反射率在0.2%以下.
关键词
193nm增透膜
光学损耗
剩余反射率
设计
热舟蒸发方法
Keywords
193 nm, AR coatings, optical loss, reflection
分类号
O484 [理学—固体物理]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
低损耗193nm增透膜
尚淑珍
邵建达
范正修
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
9
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