波峰焊焊接空洞问题的分析与解决方法

无铅波峰焊接工艺是常见组装焊接工艺之一,其中焊接空洞是较严重的问题。焊接空洞的存在是电子学产品的潜在隐患,影响产线补板效率,增加生产成本。以实际生产过程中混装电路板过波峰焊时遇到的通孔焊接空洞现象进行分析,主要从印制板制程工艺与波峰焊工艺参数这两方面提出解决方案。

QFN接地焊盘焊接空洞减少解决方案

QFN(Quad Flat No-lead Package,方形扁平无引脚封装),表面贴装型封装之一,呈正方形或矩形,封装底部中央位置有一个大面积裸露焊盘用来导热,围绕大焊盘的封装外围四周有实现电气连结的导电焊盘。由于QFN封装不像传统的SOIC与TSOP封装那样具有鸥翼状引线,内部引脚与焊盘之间的导电路径短,自感系数以及封装体内布线电阻很低,所以它能提供卓越的电性能。

新型功率器件焊接空洞的探析及解决方案

微电子焊料是电子产品组装过程中不可或缺的重要组成部分,它能够将器件的各部分有效地连接在一起。随着5G时代的到来,电子技术向着高功率、高密度和集成化的方向发展,对于大功率器件的封装如IGBT、MOS、大功率LED等,也相应地对焊接材料提出了更高的、更全面的可靠性需求。

常规锡膏回流焊接空洞的分析与解决

锡膏回流焊是半导体封装中组装工艺之一,较大焊接面积中焊接空洞是最常见和最难解决的问题之一。通过对锡膏印刷回流焊工艺特性的分析和相关性试验,排查出造成空洞的主要影响因素,运用实验设计(DOE)优化工艺参数、减少焊接空洞。为满足芯片焊接空洞要求,采用二次印刷回流新工艺,将芯片焊接空洞面积率降低到5%以内,解决因空洞引起的芯片裂损问题,为常规低成本锡膏回流焊接工艺的焊接空洞问题改善提供了参考。

基于几种典型焊接空洞问题的探讨

文章从几种典型的BGA焊接空洞案例出发,探讨了导致BGA空洞的根本原因和基本的改善方向,解读了关于BGA空洞的危害、接受标准及检查方式,并给出了焊接空洞发生时PCB的处理建议。

家电控制器回流焊接过程空洞产生原理研究与防治

针对家电行业控制器回流焊空洞问题,运用ANSYS软件,模拟不同气压下,气泡逃逸的过程及差异性。研究发现,熔融状态锡液中气泡的逃逸分为两个阶段,第一阶段气泡受惯性力作用,随着锡液往下运动,直至整个系统平衡,第二阶段,气泡受锡液表面张力作用,往外逃逸,直至溢出气泡;随着气压增大,气泡所需逃逸时间越长,两者呈非线性关系,因此调整气压可以有效减少空洞的产生。通过设计实验,采用6种气压环境进行了真空焊接实验,运用X-ray对焊点进行了检测,焊接气压越小,空洞尺寸越小,对空洞的产生有抑制作用。

曲面微带天线焊接技术研究

文中从焊接夹具设计、焊接工艺、焊料预置等方面对微带天线与曲面载体之间的焊接进行了研究,得到了适合微带天线与曲面载体焊接的真空汽相焊工艺参数,并对钢网印刷方式和预置焊片2种方式下微带天线的焊接空洞率进行了比较。试验结果表明,在真空汽相焊方式下,采用预置焊片方式并适当设计焊片开口尺寸后的最大空洞率为22.61%。

无损检测技术在达林顿管筛选中的应用

达林顿管又称复合管,可以应用于大功率开关电路、电机调速、逆变电路和驱动小型电机等。本文基于达林顿管的结构,利用DR成像检测法、超声波C扫检测法对达林顿芯片焊接空洞进行分析,来确定达林顿管的检测方法及判别依据。结果表明可以采用DR成像法对达林顿管进行筛选。

DIMM孔润湿不良研究改善

服务器板DIMM（Dual Inline Memory Module双列直插内存模块）孔透锡不良和焊接空洞问题是较严重的质量问题，DI咖焊接空洞的问题一直困扰着PCB工厂。在IPC-S-610F中界定，一般情况下通孔的焊点最少时其透锡面凹进量不允许大于板厚的25％，否则成为透锡不良。文章主要对影响DIMM孔少锡不良孔径匹配、单点孔破／铜厚、孔粗、显影不净／污染、受潮、OSP膜厚六个方面进行研究分析改善。

LGA器件焊点缺陷分析及解决

文章针对LGA器件回流焊后常见的空洞和锡珠等缺陷,对其产生的原因进行了分析。通过对LGA器件采用预上锡回流工艺和印制板钢网一字架桥开口的方式,提升回流焊过程中焊膏中挥发气体的逸出,并通过对比试验,找到合适的预上锡钢网尺寸,解决了生产中LGA器件焊接常见的空洞大等缺陷。