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基于Talbot效应和moire条纹的CCD精细拼接理论研究
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作者 王虎 苗兴华 《测试技术学报》 2004年第z6期45-48,共4页
在空间探测等领域,要想得到像元尺寸小、像元数多且价格便宜的CCD器件是比较困难的.目前解决的方法主要采用两片或多片CCD通过拼接来实现,故而在拼接时,错位量的准确移动直接影响着拼接后的整体效果.本文只用一块光栅和DⅡ-180°直... 在空间探测等领域,要想得到像元尺寸小、像元数多且价格便宜的CCD器件是比较困难的.目前解决的方法主要采用两片或多片CCD通过拼接来实现,故而在拼接时,错位量的准确移动直接影响着拼接后的整体效果.本文只用一块光栅和DⅡ-180°直角棱镜相结合并利用Talbot效应和moire条纹来进行CCD精细拼接.拼接精度可达到单个像元尺寸的1/20. 展开更多
关键词 CCD TALBOT效应 moire条纹 焦平面拼接
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