用于照射量仪校准工作的监测电离室

本文描述用于照射量仪校准工作的薄窗监测电离室的结构、性能及使用方法．就重复性而言，电离室的读数在０．２％以内相符；用于校准现场仪器时，在中等过滤的情况下误差小于１％，重过滤下不大于２％．

用于照射量仪校准的宽束K荧光靶

本文提出荧光靶最大输出厚度的简单估计方法；制备了２３种荧光靶。

次级标准剂量实验室中的量值传递及互检

1 引言 次级标准剂量实验室的任务之一是将国家基准实验室的照射量值,通过次级标准实验室的参考仪器,传递到次级标准实验室。传递方法是用一系列规定射线质,例如:量值已知的Χ射线（通常可以为治疗水平）照射次级标准实验室的参考仪器,根据仪器对这一系列射线质的不同示值,给出仪器的刻度因子F_E（或校准因子）,使F_E·M等于国家基准实验室的照射量值,其中M为次级标准实验室参考仪器的示值。然后,在次级标准实验室中可用这个已经国家基准实验室刻度的参考仪器,来刻度其他仪器,或将量值再传递给其他次级标准仪器。这些其他次级标准仪器可以覆盖较宽的量程,用它们再来刻度各种各样的现场应用仪器,如各种量程的巡测仪,辐射仪,个人剂量仪,TLD,环境γ辐射监测仪等。

自制低能自由空气电离室(PRS—2)与电离室(NPL2561)的比对

1 引言 低能自由空气电离室（RPS—2）是本实验室在70年代末为解决K荧光X参考辐射照射量率的测量问题而自行研制的,见图1。 用于仪表刻度的K荧光X参考辐射源给出的低能X辐射可低达6keV或更低,ISO4073推荐的能量下限为8.6keV,而本实验室的参考仪器NPL2560次级标准照射量仪主要是用于过滤X参考辐射照射量的测量,在16.5keV以下的能区就无法给出量值。低能自由空气电离室的研制,解决了这一问题,它是从伦琴的基本定义出发,主要参考了美国NBS Ritz的类似工作而设计的。