微波毫米波T/R组件内键合引线熔断机理研究

键合引线的耐电流水平是影响键合可靠性的重要因素之一,直接决定了雷达微波毫米波T/R组件的使用寿命。文中结合雷达微波组件的实际应用需求,开展键合引线耐电流水平研究,并深入分析了引线熔断机理,探讨引线熔断的微观过程,为电讯设计提供数据和理论参考。研究发现,键合引线熔断过程是焦耳热作用下的原子热迁移过程。熔断电流水平受外部气氛影响,大气气氛下的熔断电流水平略高于真空气氛下,可为航天产品设计提供参考。

电力电容器用内熔丝有关试验问题探讨

介绍了电力电容器内熔丝的选取及试验验证情况,并对内熔丝的相关试验项目、方法,进行了阐述,论述了内熔丝的熔断机理,为电力电容器的内熔丝设计提供了试验依据。