X-射线荧光光谱法测定溶样后熔融制样金属硅中铁、铝、钙、钛、磷、铜

本文提出了溶解、蒸干然后用熔剂熔融残渣的样品制备方法 ,解决了金属硅不易直接熔融制样的难题 ,可以同时测定金属硅中多种杂质元素 ,消除了基体效应的影响 ,克服了标准样品对测定的限制 ,测定范围广 ,准确度高 。