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光子成像计数技术及其新进展
被引量:
5
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作者
魏继锋
张凯
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2007年第7期27-32,共6页
介绍了光子成像计数技术的几种主要类型,并详细阐述了其中几种发展迅速且在该领域应用最为广泛的技术,对这些技术目前的发展现状和最新进展也作了详尽的介绍。
关键词
探测
多阳极通道阵列
电子轰击
ccd
片上增益ccd
原文传递
题名
光子成像计数技术及其新进展
被引量:
5
1
作者
魏继锋
张凯
机构
中国工程物理研究院应用电子学研究所
出处
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2007年第7期27-32,共6页
文摘
介绍了光子成像计数技术的几种主要类型,并详细阐述了其中几种发展迅速且在该领域应用最为广泛的技术,对这些技术目前的发展现状和最新进展也作了详尽的介绍。
关键词
探测
多阳极通道阵列
电子轰击
ccd
片上增益ccd
Keywords
detection
multi-anode microchannel
EB
ccd
EM
ccd
分类号
TN248.6 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
光子成像计数技术及其新进展
魏继锋
张凯
《激光与光电子学进展》
CSCD
北大核心
2007
5
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