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光子成像计数技术及其新进展 被引量:5
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作者 魏继锋 张凯 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2007年第7期27-32,共6页
介绍了光子成像计数技术的几种主要类型,并详细阐述了其中几种发展迅速且在该领域应用最为广泛的技术,对这些技术目前的发展现状和最新进展也作了详尽的介绍。
关键词 探测 多阳极通道阵列 电子轰击ccd 片上增益ccd
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