微细矩形磁性薄膜体系中一致转动磁化模式

针对经过刻蚀的微细矩形磁性体系 ,将样品的形状及其磁晶易磁化轴的偏转两个因素引入经典的Stoner Wohl farth一致转动磁化模型中 ,发现磁性样品的微细化将使其特征星形线发生膨胀 ,而样品形状的缺陷及磁晶易磁化轴的偏转都将导致样品非对称特征星形线的产生 .这些结果说明在诸如磁性随机存储器等基于微细磁性薄膜的工作中 ,薄膜形状及其磁晶易磁化轴的角度不容忽略 .