Mn_(1.56)Co_((0.96-x))Ni_(0.48)Cu_xO_4系列薄膜光电性质研究

用化学溶液沉积法,以Al2O3为衬底在750℃温度下制备了锰钴镍铜Mn1.56Co(0.96-x)Ni0.48CuxO4系列薄膜.制备温度低于传统烧结工艺需要的温度(1100℃).采用X射线衍射(XRD)对所制备材料的结晶性能进行测量.结果表明,在一定范围内随着铜组分的增加,材料的择优取向发生变化,结晶性能提高且保持立方尖晶石单相结构.根据Scherrer方程和XRD数据计算薄膜的晶粒尺寸,Cu含量的增加导致薄膜晶粒尺寸增大.扫描电镜(SEM)图验证了制备的薄膜材料均匀致密,无裂痕.测量材料的变温I-V特性,计算材料在295 K下负温度电阻系数α及其活化能和特征温度,当Cu含量低时材料的α值较大,随着Cu组分的增加,α由-4.12%下降到-3.29%.利用椭偏光谱仪(SE),拟合材料在近紫外-可见-近红外波段的消光系数,并初步指认消光系数峰.

影响量子阱激光器热特性的主要因素

本文从理论上剖析影响半导体激光器热特性的主要因素 ,包括 :(1)俄歇复合几率的大小 ;(2 )有源区的载流子泄漏 ;(3)价带间光吸收 ;(4)激光器有源区材料的禁带宽度Eg。并分析了这四个因素与器件的材料和结构的关系。