基于特殊测试点隔离算法的测试节点选择

测试点的选择问题作为模拟电路故障诊断的基础性问题,如何找到数目最少的测试点以隔离电路的所有故障成为研究的重点,常用的测试点选择方法大多为故障字典法。研究发现,如果电路中一种特定的故障只能由一个特殊的测试点进行隔离,那么将这种特殊测试点选出可以大大简化故障字典,然后完成剩余有效测试点的选择和冗余测试点的移除,即可选出最优的测试点集合。这种方法称为特殊测试点隔离算法,通过对比实验,发现该算法很好的平衡了测试点选择中对时间和精度的要求,而且具有更高的效率。