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集成电路的闩锁测试
1
作者
赵俊萍
孙健
《环境技术》
2023年第7期127-131,共5页
基于闩锁测试标准中提供的方法和流程,本文针对复杂集成电路中包含的特殊性质的管脚,对实际闩锁测试过程中特殊性质引脚的处理方法及注意事项进行了详细的阐述,为测试人员正确理解并执行集成电路闩锁测试标准提供了依据,也为准确评估集...
基于闩锁测试标准中提供的方法和流程,本文针对复杂集成电路中包含的特殊性质的管脚,对实际闩锁测试过程中特殊性质引脚的处理方法及注意事项进行了详细的阐述,为测试人员正确理解并执行集成电路闩锁测试标准提供了依据,也为准确评估集成电路的抗闩锁能力奠定了基础。
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关键词
闩锁
测试标准
特殊管脚
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职称材料
题名
集成电路的闩锁测试
1
作者
赵俊萍
孙健
机构
北京微电子技术研究所
出处
《环境技术》
2023年第7期127-131,共5页
文摘
基于闩锁测试标准中提供的方法和流程,本文针对复杂集成电路中包含的特殊性质的管脚,对实际闩锁测试过程中特殊性质引脚的处理方法及注意事项进行了详细的阐述,为测试人员正确理解并执行集成电路闩锁测试标准提供了依据,也为准确评估集成电路的抗闩锁能力奠定了基础。
关键词
闩锁
测试标准
特殊管脚
Keywords
latch-up
test standard
special pin
分类号
TN443 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
集成电路的闩锁测试
赵俊萍
孙健
《环境技术》
2023
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