用光学赝外差法探测相位变化

本文报导光学赝外差方法,它是利用LN晶体放置在迈克尔逊干涉仪的参考臂中做电光相位调制。在光电接收后,利用狭带放大器对光电信号的基频进行放大,把放大后的基频电信号与原调制电信号进行相位比较,来探测相位变化。我们利用此装置测量了PZT微位移器的工作曲线,得到了满意的结果。本文还介绍了赝外差方法在其它方面的应用。