玉米籽粒霉变等级高光谱图像检测方法研究

为了快速、无损检测出储藏玉米籽粒不同霉变状况,提升玉米收储环节质检效率,尝试利用高光谱成像技术结合机器学习算法构建玉米籽粒霉变等级分类模型。采集400~1 000 nm波段范围内玉米籽粒高光谱图像,以测定的真菌孢子数为依据,将籽粒霉变状态划分为健康、轻度霉变、中度霉变和重度霉变4个等级,采用随机蛙跳(RF)算法优选出7个光谱特征变量,针对特征波段图像,利用Tamura算法共提取出21个纹理特征变量,基于颜色矩阵提取出21个颜色特征变量。进一步结合支持向量机(SVM)、极限学习机(ELM)和偏最小二乘回归(PLSR)3种算法分别建立基于光谱、图像和图谱特征融合的玉米籽粒霉变等级分类模型。经分析比较,融合光谱和图像特征并结合ELM算法建立的分类模型用于玉米籽粒霉变等级识别效果最优,训练集和测试集分类准确率(Acc)分别为94.21%和93.86%,并将玉米籽粒霉变等级进行可视化表达。