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功率集成电路TID加固环栅器件研究现状综述
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作者 罗萍 吴昱操 +3 位作者 范佳航 张致远 冯皆凯 赵忠 《微电子学》 CAS 北大核心 2023年第6期957-964,共8页
总结了标准工艺下功率集成电路中总剂量辐射(TID)加固环栅MOS器件与环栅功率器件的研究现状,归纳了不同结构形态的环栅器件的性能优劣,推荐8字形环栅MOS器件、华夫饼功率器件及回字形LDMOS器件结构用于功率集成电路的TID加固设计。同时... 总结了标准工艺下功率集成电路中总剂量辐射(TID)加固环栅MOS器件与环栅功率器件的研究现状,归纳了不同结构形态的环栅器件的性能优劣,推荐8字形环栅MOS器件、华夫饼功率器件及回字形LDMOS器件结构用于功率集成电路的TID加固设计。同时,阐述了现有环栅MOS器件等效W/L的建模情况,提出保角变换是环栅MOS器件等效W/L精确建模的重要方法,最后还给出了环栅器件建库的基本流程。 展开更多
关键词 总剂量辐射加固 环栅mos器件 功率mos 等效W/L建模 器件建库
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