基于TEDS和矩阵开关技术的自动测试系统

为了解决现有测试系统测试周期长,测试效率低的不足,在自动测试系统(automatic test system,ATS)的基础上,将电子数据表格(transducer electronic data sheets,TEDS)和改进的矩阵开关技术应用于系统中,对现有操作模式中存在的不足进行弥补,实现了传感器特征参数信息的自动读取以及测试资源和被测对象(unit under test,UUT)之间的高效匹配;给出了改进后系统的体系架构,研究了构建系统所需的关键技术,并进行了仿真试验;结果表明,改进后的系统有效解决了现有测试系统中存在的突出问题。