期刊文献+
共找到1篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
电子封装技术的最新进展 被引量:20
1
作者 傅岳鹏 谭凯 田民波 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期113-118,共6页
现今集成电路的特征线宽即将进入亚0.1 nm时代,根据量子效应这将是半导体集成的极限尺寸,电子产品小型化将更有赖于封装技术的进步。概括总结了SiP三维封装、液晶面板用树脂芯凸点COG封装、低温焊接等技术的最新进展。并对SiP三维封装... 现今集成电路的特征线宽即将进入亚0.1 nm时代,根据量子效应这将是半导体集成的极限尺寸,电子产品小型化将更有赖于封装技术的进步。概括总结了SiP三维封装、液晶面板用树脂芯凸点COG封装、低温焊接等技术的最新进展。并对SiP三维封装技术中封装叠层FFCSP技术进行了着重的阐述。指出随着低温焊接、连接部树脂补强以及与Si热膨胀系数相近基板的出现,电子封装构造的精细化才能成为可能,为各种高密度封装、三维封装打下坚实基础。 展开更多
关键词 系统封装 玻璃板上封装 挠性载带包覆芯片级封装 低温焊接
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部