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避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述
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作者 杨建生 徐元斌 李红 《电子产品可靠性与环境试验》 2002年第1期62-66,共5页
介绍了把断裂力学法应用于倒装片BGA的设计方法。概述了一些关键的材料特性和封装尺寸对倒装片BGA芯片裂纹的影响作用,从而断定基板厚度和芯片厚度是倒装片BGA芯片发生裂纹的两个最重要的因素.
关键词 BGA技术 球栅陈列封装 裂纹 芯片 有限单元分析 倒装片 断裂力学 设计工艺
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BGA焊点的缺陷分析与工艺改进
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作者 李民 《现代表面贴装资讯》 2002年第3期27-31,共5页
本文将结合实际工作中的一些体会和经验,就BGA焊点的接收标准、缺陷表现及可靠性等问题展开论述,特别对有争议的一种缺陷-空洞进行较为详细透彻的分析,并提出一些改善BGA焊点质量的工艺改进的建议。
关键词 球栅陈列封装器件 焊接质量 集成电路 BGA 焊点 缺陷分析 工艺改进 空洞
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