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NEC ^(14)C测量AMS系统离子源升级
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作者 丁杏芳 付东坡 +2 位作者 蒋正元 路祥臣 刘克新 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第B09期233-237,共5页
为提高样品测量效率,对MC-SNICS多靶位铯溅射负离子源进行了升级改进。改进后的离子源采用球面电离器代替原有的锥面电离器,对供铯系统也进行了比较彻底的改造,通过参数优化,12C-引出流强最大可达近150μA,比原有离子源提高了1倍以上。... 为提高样品测量效率,对MC-SNICS多靶位铯溅射负离子源进行了升级改进。改进后的离子源采用球面电离器代替原有的锥面电离器,对供铯系统也进行了比较彻底的改造,通过参数优化,12C-引出流强最大可达近150μA,比原有离子源提高了1倍以上。流强的提高增加了加速器的束载效应,导致纹波变大,对测量稳定性造成一定影响。通过增加主分析磁铁后的光阑孔径和优化束流传输,可使AMS保持高的测量精度,同时对测量本底未产生大的影响。 展开更多
关键词 加速质谱 离子源 球面电离器 引出流强
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