理想边缘产生方法的研究

详细介绍了产生理想直线边缘的方法。在亚像素提取算法中 ,通常要考察算法两个方面的内容 ,一是在没有噪声的情况下算法本身的精度 ,二是在有噪声的条件下考察算法的抗噪声能力 ,这两个方面是分开的。本文所介绍的理想边缘就可以用来考察亚像素算法精度的两个方面。本方法以CCD成像原理为基础 ,根据方形孔径采样定理 ,给出了边缘点灰度值的计算方法 ,并以一种情况为例给出了边缘点灰度值的计算公式 ,利用此公式可直接编程产生理想边缘 ,产生的边缘可用于亚像素细分算法的评价。

非理想边缘电容器电容的分析

电容器是广为应用的电子器件之一.由于电容器的边缘不规则和具有明显的边缘效应,使电容的标称值与其实际值不符,常会引起无法预料的电容击穿等线路故障.通过对两类具有非理想边缘的矩形平行板电容器电容的分析,得出了具有较明显边缘效应的电容器电容的半定量结果和两板不严格平行的电容器电容的定量结果,指出了在实际应用中应注意的有关问题.

一种快速边缘检测算法

边缘检测是对图像中像素值的不连续性的度量、检测和定位,是图像分析领域中的一个基础问题.基于斜面分解的非对称逆布局图像表示方法(IDNAM)借鉴斜面拟合和逆布局的思想,使用矩形斜面子模式(RIP子模式)实例的集合来表示图像.基于IDNAM,提出一个RIP子模式内的理想边缘模型,将RIP子模式内的边缘分成五种,并给出了每一种边缘的强度和方向的计算公式.为了消除噪声对边缘检测结果的干扰,提出了RIP子模式内边缘存在性判定条件.根据理想边缘模型和判定条件,提出了一种基于IDNAM的边缘检测算法.理论分析和实验结果均表明,基于IDNAM表示的边缘检测算法的处理速度较传统的边缘检测算法更快.

一种新的亚像素边缘检测误差校正算法

矩方法采用二维理想边缘模型描述亚像素边缘,实际图像在边缘处存在一个渐变的过渡阶段,而二维理想边缘模型不能精确描述边缘,导致原理误差的产生。为此,提出一种采用误差校正表的算法,用于降低二维理想边缘模型引入的原理误差,提高亚像素边缘检测精度。通过方形采样定理模拟生成已知边缘的理想图像,用矩方法检测理想图像的亚像素边缘,构造二维误差校正表。使用查询误差校正表并结合双线性插值求出误差后进行误差校正。以灰度矩和Zernike矩为例进行对比实验,结果表明,该算法亚像素检测精度比校正前提高了一个数量级。校正算法主要计算量是双线性插值,能保持亚像素边缘检测的实时性。