理论α系数在X射线荧光光谱分析化探样品主量元素中的应用

X射线荧光光谱分析是一种快速、准确而又经济的方法,已成功地用于地质化探样品中主、痕量元素的分析,但基本上均用经验系数法校正元素间吸收-增强效应,国内一般用50只左右的标准样品,Guerara等,用粉末压片法测定地质样品中主量元素,采用美国、西德、日本等国的标准样品。

X射线荧光分析中理论α系数经验修正方法研究

在地质样品粉末任片法X射线荧光分析中,使用理论α系数校正基体效应尚有一定的局限性。为了获得最佳校正效果,本文提出了一种简易的理论α系数经验修正方法。

理论α系数法在X射线荧光光谱分析Pr_6O_(11)富集物样品中的应用

介绍利用ＣｒｉｓＸＲＦ－１１软件计算理论α系数，以校正基体效应的影响。应用该方法测定氧化镨富集物中Ｌａ２Ｏ３，ＣｅＯ２，Ｐｒ６Ｏ１１，Ｎｄ２Ｏ３，Ｓｍ２Ｏ３，Ｅｕ２Ｏ３，Ｇｄ２Ｏ３，Ｔｂ４Ｏ７，Ｙ２Ｏ３的含量，实验结果令人满意。

关于X荧光分析中氧化物和熔片体系Lachance理论α系数计算方法的探讨

一、引言自1981年Lachance提出了全面理论α系数校正方法(Comprehensive Theoretical αCoefficient Method)以来,它在X荧光分析中已得到了日益广泛的应用。与此有关的计算机程序有加拿大地质调查所的GSC,以及后来由我围陶光仪同志与美国国家标准局的P.A.

理论α系数在X射线荧光光谱法分析钢铁成分中的应用

本文用ＤＲＡＬＰＨＡ程序计算了一套钢铁体系的理论α系数，对钢铁中１２种元素间的吸收－增强效应进行了数学校正，在较宽的浓度范围内对钢铁成分进行了分析。该方法具有通用性强，所需标准样品少以及校正结果准确等优点。

理论α系数法波长色散X射线荧光测定土壤中的重金属

近年来,重金属带来的土壤污染问题日益严重,快速、准确、有效地测定土壤中重金属种类及含量对土壤重金属污染评估及后续污染防治具有重要意义。本研究建立了波长色散X射线荧光光谱法同时测定土壤样品中铬、铅、锌、铜、钴、镍、锰、钒8种重金属元素含量的检测方法,通过经验法与理论α系数法的结合,优化了实验条件,方法线性良好,准确度与精密度较高,并且极大的简化了测定过程,提高了工作效率。将应用于土壤重金属含量初步评估,与ICP-MS的测定结果吻合度高。土壤监测结果表明,目标区土壤均符合二级土壤限量标准,该区土壤环境质量总体较好。而且该法减少了实验前处理过程中化学试剂的使用,避免了前处理过程中带来的环境污染问题,适用于规模较大的地质、农业、环境监测分析等生产单位进行土壤中重金属元素的快速测定。

X射线荧光光谱分析中理论α系数法与经验系数法的比较研究

本文使用理论α系数法对各类高合金进行基体校正。在校正常数的合理性、系数的波动性,工作曲线的扩展性等方面和目前X射线荧光光谱分析中常用的经验系数法进行比较研究。

理论α系数法校正曲线测定中、低碳锰铁中锰的方法探究

经过多次的生产试验,对产品中的元素含量进行了分析测定,从原来的多点曲线,无校正方式,到理论α系数法校正曲线方式,进行曲线之间的比对,总结出在锰铁中不同碳含量对锰的影响及不同铬含量对锰的影响,减少了分析曲线对结果带来的误差,提高了分析结果的准确度。采用理论α系数法校正曲线测定中、低碳锰铁中锰量,结果准确度高,已用于成品分析。

高合金X射线荧光光谱分析中的理论α系数法

本文阐述了理论α系数在高合金x射线荧光光谱分析基体校正时的变化规律以及工作曲线的特征等。

R-α系数法校正铅黄铜合金X荧光分析中的基体效应

介绍一种将理论α系数法与基本参数法有机结合起来校正基体效应的方法。实验表明:该方法提高了样品分析的精确度,对铅黄铜合金试样中Cu、Zn、Pb元素含量分析的平均相对误差分别为0.11%、0.72%、2.93%;该方法减少了所需标准样品的数量,且能在无纯元素标样的情况下对仪器进行标定。在相同测量条件下,分析效果比基本参数法及理论α系数法好。

应用X射线荧光光谱法测定常见金属基体中合金组分

本文应用X射线荧光光谱法制作通用工作曲线,测定铜、铁、铝、镍和钛基体金属中多种主要合金元素的含量,通过优选干扰小的谱峰、结合数学公式校正,降低了重叠干扰;并采用变化的理论α系数法校正了多金属基体条件下的基体效应影响。该方法分析了包括铜、铁、铝、镍和钛基材料在内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.28%~24.2%之间。

铸造铝合金样品的X射线荧光光谱分析

以西南铝业公司研制的E223系列ZL205A铝合金作为光谱标样,用干扰曲线法结合理论α系数对谱线重叠干扰及基体效应进行校正,建立了X射线荧光光谱测定铸造铝合金ZL205A中除B外的Mg、Si、Ti、V、Mn、Fe、Cu、Zn、Zr和Cd10种元素的方法。该方法用于实际样品分析,结果与化学法、原子吸收法相吻合。10次制样测量,各元素RSD在0.42%～2.23%。

神经网络基本参数算法校正非线性基体效应

提出了神经网络基本参数 - NNFP算法。将 NNFP算法应用于 X射线荧光定量分析中 ,与理论α系数相比 ,NNFP算法提高了非线性基体效应校正能力和预测准确度。

X射线荧光光谱测定钛合金样品中多元素

以化学法标定的钛合金作为标准样品 ,用理论α系数及干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正 ,开发了用X射线荧光光谱测定钛合金样品中除Ti外的常量和微量元素的方法。用该方法测定结果与化学值相符。 1 0次制样测量 ,各元素的RSD≤ 1 .2 5 %。

熔融制样-X射线荧光光谱法测定海洋沉积物中氯等元素

应用X射线荧光光谱法测定了海洋沉积物中12种元素(即硫、铝、铁、钙、钾、磷、钛、锰、氯、硅、钠及镁)。样品预先在120℃烘8h后,称取0.500 0g与5.000g混合熔剂(四硼酸锂67g与偏硼酸锂33g混合)置于铂-金坩埚中混匀后,先在600℃预氧化200s,使还原性物质充分氧化,随即升温至1 000℃熔融9min。熔融物自动在坩埚内成型为样品,自动脱出后即可用于X射线荧光光谱法测定。用理论α系数法校正基体效应及元素间谱线重叠干扰。应用此方法分析了2个深海沉积物标准物质,所测得12种组分的结果与标准值一致。

X射线荧光分析钒钛铁矿中主次量元素

四硼酸锂为熔剂 ,硝酸锂为氧化剂防止硫元素挥发损失 ,溴化锂作脱模剂 ,玻璃熔片法制备样品。干扰曲线法结合理论α系数法对谱线重叠干扰和基体效应进行校正 ,建立了 XRF测定钒钛铁矿中 Mg,Al,Si,P,S,Ca,Ti,V,Mn,TFe等主次量元素的分析方法。该方法经标准样品验证 ,与推荐值符合较好。 10次制样测量各组分 RSD在 0 .2 7%— 5 .2 4

X射线荧光光谱法测定冰晶石中成分

研究了冰晶石样品熔融法制样的条件,确定了熔融法制样中选用四硼酸锂和偏硼酸锂(以质量比67比33)混合作溶剂,消除熔融过程中氟元素的挥发问题,且保证混合溶剂与试样的质量比为10比1.5以形成玻璃片等试验条件,制定了利用X射线荧光光谱仪测定冰晶石中元素含量的方法。用理论α系数或基本参数法校正元素间谱线重叠干扰和基体效应,拟定的方法进行实际样品分析,其测定结果与标准值或化学值相符。

X射线荧光光谱法测试重晶石中的多元素

采用玻璃熔片法制样,建立了重晶石中多元素X射线荧光光谱分析方法.准确称取待测样品0.5000 g,X射线荧光专用熔剂5.000 g;二者混合后,通过高频熔样机在1150℃进行熔片处理8 min;将最终得到的样片放入干燥器中冷却至室温,然后准确称取玻璃片质量;上机测试,所得到的数据为该元素在玻璃片中的含量;通过换算最终得到实际样品中的该元素含量.使用理论α系数法和经验系数法相结合来回归校正共存元素间的吸收增强效应.本方法对于重晶石中各元素的测试相对标准偏差处于0.2%-4.7%之间,方法检出限在3.3×10^-6-170.6×10^-6之间.测试数据通过与国家标准物质比对,结果合理.

X射线荧光光谱在铝矿石赤泥组分分析中的应用

文介绍X射线荧光光谱在铝矿石,赤泥等材料组分分析中的应用。采用熔融玻璃片和粉末压片法制样,用理论α系数和散射线内标法校正元素间的效应,使用PW2403x射线光谱仪对样品中的Al2O3、SiO2、Fe2O3、TiO2、K2O、Na2O、CaO、MgO、P2O5、灼减、MnO、S、Pb、Zn、Sr、Zr、V、Ga、Cr等19个元素进行测定,其分析结果的精密度和准确度可与化学法相媲美。

地质样品中27项元素的粉末压片法x射线荧光光谱测定

本文报导了用x射线荧光光谱法—次粉末压片制样同时测定Na. Mg. Al. Si.P. S. K. Ca. Ti. V. Cr. Mn. Fe. Co. Ni. Cu. Zn. Rb. Sr. Y. Zr. Nb. Ba. Hf. Pb. Th. U等27项元素的快速分析方法。从理论上提出了新的基体效应学校正模式,首次引入了非荧光分析的物质(筒称NFAM)的新概念;并计算了理论α系数,使理论α系数在粉末压片法x射线荧光分析中获得了应用。本方法测定的对象可以是岩石,土壤和水系沉积物等地质样品。