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题名不同能量电子辐照下星用瑞侃导线性能退化研究
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作者
赵春晴
刘宇明
沈自才
盛江
张凯
杨艳斌
刘宠
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机构
北京卫星环境工程研究所
中国运载火箭技术研究院空间物理重点实验室
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出处
《装备环境工程》
CAS
2020年第3期8-14,共7页
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基金
国家国防科工局技术基础科研项目(JSJC2013203C106)。
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文摘
目的研究卫星上外露导线在空间辐射环境下的耐受能力。方法通过分析GEO轨道下在轨10年航天器外露瑞侃导线的辐照环境,研究低能和高能电子对导线性能的影响,地面模拟试验参数选择能量分别为45 keV和1 MeV,注量率均为8.3×10^10 e/(cm^2·s),总注量均为2×10^16 e/cm^2。考察瑞侃导线力学性能(断裂伸长率、拉伸强度)和电性能(击穿电压)的退化情况,并用XPS和SEM测试分析手段,对其电子辐照损伤机理进行研究。结果在不同能量电子辐照下,瑞侃导线的力学性能均略有下降,没有显著区别,而电学性能严重退化,且低能电子较高能电子对其电学性能影响更为严重,其击穿电压分别下降了100%和50%。结论通过剂量-深度分布计算,45 keV入射电子能量全部沉积在样品表层下数微米的深度范围内,完全被导线外皮吸收,对样品的损伤较大;而1 MeV入射电子能量绝大部分穿透表皮沉积在样品铜芯中,因而其性能退化情况相对低能电子较小。进一步的,通过SEM和XPS测试和分析发现,电子辐照造成瑞侃导线分子链降解,形成自由基以及气体,自由基的再交联是造成瑞侃导线损伤的重要机理。
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关键词
瑞侃导线
电学性能
力学性能
电子辐照
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Keywords
Rykan wire
electrical properties
mechanical properties
electron irradiation
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分类号
V416
[航空宇航科学与技术—航空宇航推进理论与工程]
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