商周原始瓷的EDXRF无损分析

采用能量色散 X射线荧光 (EDXRF)经验系数法 ,对江西吴城遗址出土的商代原始瓷残片中主、次量元素含量进行了无损测试 ,根据仪器提供的强度校正方程 ,用已知成分的陶瓷标准参考物求出校正系数 ,进行基体校正 ,所得结果与前人的研究工作颇为吻合。该法能满足考古样品分析的要求 。