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VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法
1
作者
沈森祖
石坚
汪喜麟
《航空计测技术》
2001年第1期36-38,共3页
在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测...
在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测试系统的测试工作者参考。
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关键词
ITS9000MX
VLSI
测试
芯片
用户辅助硬件误差
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职称材料
题名
VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法
1
作者
沈森祖
石坚
汪喜麟
机构
武汉数学工程研究所
出处
《航空计测技术》
2001年第1期36-38,共3页
文摘
在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测试系统的测试工作者参考。
关键词
ITS9000MX
VLSI
测试
芯片
用户辅助硬件误差
Keywords
VLSI,Measurement,Error
分类号
TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法
沈森祖
石坚
汪喜麟
《航空计测技术》
2001
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