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VLSI芯片测试中用户辅助硬件误差的消除方法
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作者 沈森祖 石坚 汪喜麟 《航空计测技术》 2001年第1期36-38,共3页
在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测... 在 VL SI测试中 ,由于用户引入辅助硬件产生的误差问题 ,一直是阻碍测试精度和可靠性的关键问题。本文以 ITS90 0 0 MX为背景 ,介绍在 VL SI测试中 ,对辅助硬件所造成误差的一种解除方法。在现有条件下 ,实现简单、方便 ,可供有相应测试系统的测试工作者参考。 展开更多
关键词 ITS9000MX VLSI 测试 芯片 用户辅助硬件误差
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